Le FIB Dual Beam Scanning Electric est un outil d'analyse qui combine la microscopie électronique à balayage (SEM) et la technologie de faisceau d'ions focalisés. Il a un large éventail d'applications dans la recherche sur les nanomatériaux, permettant la caractérisation, le traitement et la modification à haute résolution de matériaux à l'échelle nanométrique, fournissant des informations Multi - angles et multi - couches. Être capable non seulement d'effectuer une imagerie de surface de haute précision, mais aussi de micro - usiner des échantillons et de modifier la structure à l'échelle nanométrique est un outil important dans le domaine de la recherche en nanotechnologie et de la science des matériaux.

　　FIB double faisceau de balayage miroir électriqueApplications dans la recherche sur les nanomatériaux, principalement dans les domaines suivants:

Caractérisation et observation des nanostructures:

Il est capable de fournir une résolution élevée, capable d'observer clairement la topographie de surface, la microstructure et les défauts cristallins des matériaux à l'échelle nanométrique. Par exemple, dans l'étude des matériaux tels que les nanotubes de carbone, le Graphène, les nanoparticules, etc., FIB - SEM est capable de révéler les caractéristiques microscopiques de leur taille, de leur forme, de leur rugosité de surface et de leur structure interne, fournissant une base importante pour l'étude des propriétés des matériaux.

2, découpe locale du matériau et analyse de profil:

La technologie FIB permet une découpe locale de haute précision des échantillons et est particulièrement adaptée au traitement et à l'observation de Nanostructures complexes. Les chercheurs peuvent utiliser le FIB pour couper des échantillons et obtenir une image en coupe transversale du matériau. Ceci est important pour comprendre la structure interne des nanomatériaux, en particulier pour l'analyse des films minces, des matériaux composites et des nanomatériaux multicouches. La technologie de coupe FIB peut aider à révéler des informations telles que la hiérarchie des matériaux, la distribution des défauts et plus encore, fournissant un support de données pour les modifications ultérieures des matériaux et l'optimisation des performances.

3, modification et traitement à l'échelle nanométrique:

Les miroirs électriques à balayage à double faisceau FIB peuvent être utilisés non seulement pour l'observation, mais aussi pour le traitement et la modification à l'échelle nanométrique. Par exemple, dans l’étude des nanocapteurs, de la nanoélectronique, la technologie FIB peut précisément modifier localement la surface d’un matériau, comme l’usinage de trous minuscules, l’ouverture de nanocanaux, etc. En outre, le FIB peut également être utilisé pour déposer une couche métallique à la surface d'un matériau, effectuer des modifications de conductivité à l'échelle nanométrique ou effectuer des opérations locales de découpe, de gravure, de marquage, etc.

Analyse élémentaire et caractérisation de la composition des nanomatériaux:

L'analyse qualitative et quantitative des éléments peut également être effectuée en combinaison avec un système d'analyse spectrale de l'énergie (edX). Dans la recherche sur les nanomatériaux, edX peut être utilisé pour analyser la distribution des éléments d'un matériau, sa composition et ses variations de concentration. En particulier dans les nanoalliages complexes et les Nanocomposites, FIB - SEM fournit des informations de composition chimique détaillées pour guider la conception optimale et l'amélioration des performances des matériaux.

Imagerie 3D et reconstruction de surface:

Avantage dans l'imagerie 3D des nanomatériaux. En découpant et en scannant couche par couche, en combinaison avec des techniques de reconstruction d'image, il est possible d'obtenir des données structurelles tridimensionnelles du matériau. Cette technique a des implications importantes pour l'étude de la structure tridimensionnelle des nanomatériaux tels que la structure des pores microscopiques, la topographie des grains, les joints de grains, etc., en particulier dans l'étude des matériaux poreux, des catalyseurs et des matériaux adsorbants.

Les microscopes à balayage à double faisceau FIB ont des applications importantes dans la recherche sur les nanomatériaux en tant qu'outil d'analyse qui combine la microscopie électronique avec la technologie de faisceau d'ions focalisés. Il fournit non seulement l'imagerie de surface à haute résolution, mais aussi l'usinage, la modification et l'analyse structurelle à l'échelle nanométrique, avec des avantages en particulier dans la caractérisation des nanomatériaux, la découpe locale, l'analyse élémentaire, etc.