Spectromètre d'émission de rayons X(xes) est un outil essentiel pour étudier la composition, la structure et les mécanismes de réaction des substances en raison de sa sensibilité élevée aux éléments et de sa capacité de résolution des états chimiques dans l'analyse chimique.

　　Spectromètre d'émission de rayons XRésolution chimique des états et analyse des microzones:

Capacité de résolution des états chimiques

Xes permet de distinguer différents états d'oxydation ou environnements de coordination d'un même élément en mesurant le déplacement chimique des rayons X caractéristiques (c'est - à - dire le décalage Spectral du Pic). Par exemple:

L'état d'oxydation du fer: fe⁺ (par exemple FeO) diffère de fe⁺ (par exemple fe₂o₃) de fe⁺ (par exemple fe₂o₃) d'environ 1 - 2 EV dans l'énergie d'émission de rayons kα, qui est clairement distinguée par xes.

État de Valence du soufre: l'énergie de la raie s kα du s²⁻ (sulfure) diffère significativement de celle du so²⁻ (sulfate) pour la traçabilité des contaminants environnementaux.

Microrégions et analyse non destructive

Combiné à la microscopie électronique à balayage (SEM) ou à la microscopie électronique à transmission (TEM), xes permet la cartographie de l'état chimique des régions à l'échelle micrométrique à nanométrique, révélant les inhomogénéités des matériaux.

Il n'est pas nécessaire de préparer des échantillons complexes et convient à l'analyse non destructive de matériaux fragiles ou hétérogènes (par exemple, céramiques, tissus biologiques).