Hitachi XRF mesure d'épaisseur de revêtement nouveau ft230

L'analyseur XRF de bureau ft230 a été conçu pour réduire considérablement le temps de mesure. Conscients que le réglage des échantillons et le choix des formules de mesure ont tendance à prendre beaucoup de temps, les ingénieurs d'Hitachi ont lancé un analyseur révolutionnaire qui peut se « régler» efficacement, ce qui permet d'analyser plus de pièces au cours du processus.

L'automatisation et les logiciels innovants caractérisent l'analyseur ft230. Modules de reconnaissance intelligents tels que find my part ™ (find my Sample), ce qui signifie que l'opérateur doit simplement charger l'échantillon, confirmer la pièce et le ft230 s'occupe du reste. Il trouvera la bonne position de mesure sur vos composants, même sur de grands substrats, sélectionnera le bon programme d'analyse et enverra les résultats à votre système qualité. La réduction du temps et des erreurs humaines vous permet d'effectuer plus d'analyses en moins de temps, ce qui rend 100% des inspections plus réalistes dans un environnement de production occupé.