Principe de fonctionnement
Le type à dispersion d'énergie XRF (ed - XRF) reçoit directement les rayons X caractéristiques produits après excitation de l'échantillon par un détecteur à semi - conducteur, converti en signaux électriques par énergie, pour former des raies caractéristiques élémentaires après traitement par un circuit électronique. Son noyau réside dans le fait qu'aucun cristal séparateur de lumière n'est nécessaire, en distinguant les différents éléments par la résolution énergétique du détecteur, permettant une détection synchrone Multi - éléments.
Le type XRF dispersif en longueur d'onde (WD - XRF) utilise l'effet de diffraction cristalline pour disperser les rayons X caractéristiques en différentes raies spectrales par longueur d'onde. Après excitation de l'échantillon, les cristaux spectrophotométriques séparent les rayons X de différentes longueurs d'onde et le détecteur reçoit un signal de longueur d'onde spécifique pour réaliser l'analyse élémentaire en combinaison avec la loi de Bragg. Son noyau réside dans le criblage précis des longueurs d'onde par les cristaux spectrophotométriques, assurant une détection haute résolution.
Les limites des avantages
Résolution et sensibilité
Le WD - XRF utilise des cristaux spectrophotométriques qui séparent efficacement les raies caractéristiques des éléments adjacents avec une résolution plus élevée et convient particulièrement à l'analyse des éléments traces (limite de détection de l'ordre du μg / g). La résolution Ed - XRF est relativement faible, mais elle est plus performante dans le domaine des photons à haute énergie et la limite de détection peut atteindre 10 ~ 10 μg / g dans des conditions de matrice légère.
Vitesse d'analyse et facilité d'utilisation
L'Ed - XRF ne nécessite pas de changement de cristal spectroscopique, détecte tous les éléments en même temps, est rapide à analyser (60 à 100 secondes pour une détermination Multi - éléments complète), facile à utiliser et convient aux lignes de production pour un dépistage rapide. WD - XRF nécessite la sélection des cristaux en fonction des éléments, l'analyse mono - élément prend beaucoup de temps (2 - 5 minutes), mais l'analyseur multipiste peut réduire le temps de détection Multi - éléments.
Adaptabilité des échantillons
Ed - XRF n'a pas d'exigences particulières pour la forme de l'échantillon, peut analyser directement les solides, les poudres, les liquides et convient à la détection d'échantillons irréguliers. Le WD - XRF nécessite que la surface de l'échantillon soit plane (par exemple, ponçage solide, compression de poudre) pour assurer la précision de la détection, mais l'équipement de fabrication d'échantillons est facilement accessible et le processus de fabrication d'échantillons est normalisé.
Coût et entretien des équipements
Ed - XRF a une structure simple, une faible puissance (< 100W), aucun système de refroidissement de haute puissance n'est nécessaire, le coût de l'équipement est faible (40 000 - 150 000) et l'entretien est facile. Le WD - XRF est équipé d'un tube à rayons X haute puissance (1 - 4 kW) et d'un système de séparation optique de précision, avec un coût d'équipement plus élevé (100 000 - 400 000), mais une longue durée de vie (> 10 ans) et une meilleure stabilité à long terme.
Scène d'application
Ed - XRF: idéal pour les scénarios nécessitant des tests rapides tels que le contrôle de la qualité industrielle, la surveillance environnementale, etc., tels que la vérification de la conformité RoHS des produits en plastique, la surveillance en ligne de la teneur en minerai.
WD - XRF: idéal pour la recherche scientifique, l'exploration géologique et d'autres scénarios nécessitant une analyse de haute précision, tels que la détermination de la teneur en métaux lourds du sol, la résolution de la composition minérale.