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1670 route de zhangheng, parc de haute technologie de Changjiang, Shanghai
À propos de nous
PerkinElmer Enterprise Management (Shanghai) Co., Ltd
Perkin Elmer présente le deuxième « Semiconductor Materials and Devices Measurement and Detection Technology Training Course »
Date :2025-10-31Lire :0
Nouvelles
« et
28 - 30 octobre 2025, parInstitut de silicate de Shanghai, Académie chinoise des sciencesHébergé parDeuxième « cours de formation sur les technologies de mesure et de détection des matériaux et dispositifs semi - conducteurs »Organisé avec succès à Shanghai. En tant que principal fournisseur mondial d'instruments et de solutions analytiques,PerkinElmer invité à exposer et à présenter un rapport thématique, Affichage completDans le domaine de la détection de matériaux semi - conducteursTechnologie de pointe et capacités de services de localisation.
Contexte de la Conférence
Semi - conducteursLa technologie industrielle est dense et complexe, impliquant des centaines de processus de précision. À mesure que les processus continuent de se réduire, la pureté des matériaux, la précision de fabrication et le contrôle de la qualité augmentent de manière exponentielle. Afin de renforcer la construction d'une main - d'œuvre hautement qualifiée et d'améliorer la compréhension et l'application des techniques analytiques avancées par les chercheurs scientifiques, ce cours de formation converge86 participants professionnels d'instituts de recherche, d'universités et d'entreprises, autour deMatériaux optoélectroniques, matériaux semi - conducteurs de troisième génération, capteurs et MEMS, tests de fiabilité, analyse de défaillance, détection de défauts et métrologieDévelopper la formation du système.
Perkin Elmer fait une belle apparition
Nous avons mis en place des stands spécialisés sur le site pour présenter de manière centralisée des solutions d'inspection analytiques complètes pour l'industrie des semi - conducteurs couvrant:
? Analyse des impuretés des matériaux de haute pureté (ICP - MS)
? détection d'éléments traces (AAS, ICP - OES)
? caractérisation de la structure et de la composition des matériaux (UV, IR, Tea)
? détection analytique des contaminants organiques et des chlorosilanes (GC / MS)
Attirer de nombreux chercheurs scientifiques pour s'arrêter et échanger et explorer en profondeur les défis d'application pratique dans les précurseurs, les plaquettes, l'emballage et d'autres liens.
Présentateur: Min Zhu
- Oui?Chef de la technologie d'application, instruments analytiques, Perkin Elmer
Contenu du rapport
Présentation du système de reportingApplication de la technologie ICP - MS à la détection de matériaux semi - conducteurs à base de métalL'accent est mis sur l'analyse des principaux défis, tels queEffets de matrice, interférences de spectrométrie de masse et stabilité des analyses instrumentales sur de longues périodes, etc.Pour relever ces défis, il a présenté des idées de résolution pertinentes et des méthodes d'optimisation, telles que la technologie de dilution de gaz à matrice complète, la sélection des conditions plasma, les paramètres universels de désembrouillage de la cellule et l'utilisation de l'interface à grande ouverture tri - cône avancée et de la technologie de déflexion ionique quadripôle pour une performance exceptionnelle dans la tolérance de la matrice et les effets de charge spatiale, etc., et a mis l'accent sur les cas d'application et les données expérimentales du précurseur.
Enfin, il a souligné,Innovation technologiqueAvecContrôle de la qualité tout au long du processusEst de pousser le matériau semi - conducteur versPlus de pureté, plus de cohérence développementLa clé,Perkin Elmer s'appuiera sur une capacité de services professionnels complète et une salle blanche à semi - conducteurs Changjiang à Shanghai，Pointe technologique de l'analyse en profondeur continue, fournir un support technique solide pour les progrès de l'industrie et de nombreux clients.
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