Cet instrument mesure le coefficient Seebeck et la résistivité de l'échantillon, respectivement, en utilisant la méthode quasi - dynamique (avec technologie) et la méthode à quatre sondes.Non
Peut être utilisé uniquement pour mesurer des échantillons de semi - conducteurs en vrac, des échantillons de métaux semi - métalliques tels que le cuivre, le nickel, le bismuth et d'autres, des échantillons non métalliques tels que le graphite, le carbone et d'autres matériaux
Le coefficient de Seebeck et la résistivité peuvent également être mesurés pour les échantillons de film mince (Nano).

* avantages
Avoir des droits de propriété intellectuelle indépendants, l'accès à plusieurs technologies;
- Oui?

La méthode dynamique mesure le coefficient Seebeck, évitant l'erreur systématique de la méthode de mesure statique traditionnelle dans la mesure de la différence de température, la mesure est plus précise;
- Oui?

Le coefficient de Seebeck et la mesure de résistivité ne partagent pas la sonde de tension, évitant le problème de rupture du thermocouple miniature;
- Oui?

Adopte un système de chauffage bidirectionnel;
- Oui?

Protection automatique contre les coupures de courant;
- Oui?

Livré avec un accessoire de film (Aucun hôte requis, utilisation directe) qui permet de mesurer directement le coefficient Seebeck et la résistivité à la température normale du matériau de film.