Spectromètre à fluorescence X

Le spectromètre à fluorescence X (XRF) est un instrument d'analyse non destructive basé sur le principe de la fluorescence X largement utilisé dans le domaine de la détection de composants élémentaires. Le principe de base est le suivant: les rayons X à haute énergie excitent les atomes d'éléments de surface de l'échantillon, de sorte que la transition électronique de la couche interne forme des trous, les électrons de la couche externe lorsqu'ils sont remplis libèrent la fluorescence X caractéristique, captent l'énergie de fluorescence par le détecteur et L'analyse, peuvent rapidement détecter qualitativement et quantitativement les types et le contenu d'éléments dans l'échantillon. Avec des avantages tels que la vitesse d'analyse non destructive et rapide (une seule détection ne prend que quelques secondes à quelques minutes), la détection synchrone Multi - éléments, XRF prend en charge de nombreuses formes d'échantillon telles que solides, poudres, liquides, etc., convient à la métallurgie, la géologie, la protection de l'environnement, la pétrochimie et d'autres industries, est un outil important pour la science des matériaux et le contrôle de la qualité industrielle.