Briser les limites du test d'échantillon microscope à force atomique à balayage à tête humaine

Microscope à force atomique à balayage de sonde (FM - nanoview LS - AFM) a brisé de nombreuses limitations sur la structure de microscope à force atomique traditionnelle et sur l'échantillon de test, est * commercialisé en premier, peut réaliser l'échantillon immobile, la sonde se déplace microscope à force atomique à balayage. Briser les limites précédentes de la microscopie à force atomique sur la taille et le poids de l'échantillon. Tout en appliquant des échantillons surdimensionnés, Freeman améliore également l'évolutivité de la table d'échantillonnage pour réaliser des échantillons in situ Multi - instruments pratiques. Plus selon la demande du client, le microscope à force atomique à balayage de sonde personnalisé. Il est largement utilisé dans la recherche d'échantillons de matériaux semi - conducteurs et de matériaux de Graphène.