De plus en plus de publications scientifiques prouventQSense^®Fiabilité de la technologie.

Au cœur de cette technologie, le cristal de quartz oscille à une fréquence spécifique sous tension de charge. Lorsque la masse à la surface du cristal change, la fréquence de résonance oscillatoire du cristal change avec elle. Grâce à cette méthode, il est possible de déterminer la qualité de l'interface et les changements structurels sur une sensibilité de l'ordre du nanogramme. Cette méthode permet de mesurer en temps réel et sans marquage la surface de tout matériau pouvant former un film mince.

QSense^®Les variations de qualité peuvent être mesurées, mais aussi les facteurs de dissipation simultanément, fournissant ainsi des informations sur la structure et la viscoélasticité du film. Il peut fournir des informations telles que l'épaisseur moléculaire, la structure, la teneur en eau du film d'adsorption, etc. Il est également possible de détecter les variations de la couche superficielle d'adsorption avant la réaction, après la mise en oeuvre de la neutralisation.

Les métaux, les polymères, les surfaces modifiées chimiquement, tant que les matériaux qui peuvent être étalés en film sur la surface de la puce, peuvent devenir notre revêtement de puce personnalisé.