Wuhan Yiguang Technology Co., Ltd
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18696172880
Bâtiment 6, No.10, route de quatre de port financier, zone de développement de nouvelle technologie de Donghu, Wuhan
Caractéristiques:
Mesure non destructive
Il n'y a pas besoin de toucher ou de blesser l'échantillon, il peut être multi - test sur le produit fini, semi - fini, pour éviter la perte d'échantillon.
Haute précision et large gamme
Précision: ± 2nm ~ ± 5NM pour les modèles conventionnels;
Gamme: couvre de 1 nm à plusieurs centaines de microns, certains modèles prennent en charge la mesure du film multicouche.
Rapide et efficace
Le temps de mesure unique est court, le modèle facile est d'environ 0,1 ~ 1 seconde, la Méthode spectrophotométrique est d'environ 3 ~ 5 secondes, peut répondre aux besoins de la ligne de production "détection en ligne".
Opération facile
Base de données d'indice de réfraction intégrée pour les matériaux courants, pas besoin d'entrer les paramètres manuellement; Certains modèles prennent en charge la « mesure en un clic» et peuvent fonctionner sans connaissances optiques spécialisées.
Forte adaptabilité environnementale
Les modèles de qualité industrielle ont une conception anti - poussière et anti - choc, qui peut fonctionner de manière stable dans l'environnement de l'atelier; Le modèle de laboratoire prend en charge le contrôle de la température constante (± 0,5 ℃), ce qui améliore encore la stabilité des données.
Appareil d'épaisseur de film réfléchissantPrécautions d'utilisation:
Pré - traitement de l'échantillon: Assurez - vous que la surface de l'échantillon est propre (pas de poussière, d'huile), sinon cela affectera le signal lumineux réfléchi, entraînant une erreur de mesure;
Contrôle de l'environnement: la mesure de haute précision en laboratoire doit éviter la lumière directe forte, la perturbation du flux d'air, la scène industrielle doit être éloignée de la source de vibration;
Calibration régulière: Calibration mensuelle avec des échantillons d'épaisseur de film standard pour assurer la précision de l'instrument;
Correspondance des paramètres: avant la mesure, vous devez confirmer si l'indice de réfraction du film, le type de base est cohérent avec les paramètres de l'instrument.