Filmetrics F20 appareil de mesure d'épaisseur de film portable à point unique

Si vous voulez connaître l'épaisseur du film, la constante optique ou la réflectivité et la perméabilité du matériau, le F20 répond à vos besoins. Il suffit de quelques minutes pour terminer l'installation et de connecter l'ordinateur via USB, l'appareil peut obtenir des résultats de mesure en quelques secondes. Basé sur les caractéristiques d'une certaine conception modulaire, le F20 convient à une grande variété d'applications.

Applications associées:Colle photolithographique, film de procédé, matériau diélectrique,Revêtement dur,Parylène,Couche antireflet,Matériel médical, OLED、 Épaisseur de verre, Ito avec d'autres TCO.

Appareil de mesure de film filmetrics F40

Un système de mesure de l'épaisseur du film combiné à un microscope,Le système spécial de mesure d'épaisseur de film de filmetrics permet aux utilisateurs de mesurer simplement et rapidement l'épaisseur du film etConstante optique, obtenue en quelques secondes par analyse du spectre de réflexion inter - interfaciale supérieure et inférieure de la couche de membrane à mesurerAux résultats de mesure.

Applications associées:Colle photolithographique, fabrication de semi - conducteurs, polymère / paraxylène,Éléments biomédicaux,Systèmes microélectromécaniques MEMS,épaisseur de boîte,Oxydes / nitrures,Une couche de silicium ou autre membrane semi - conductrice,Épaisseur du biofilm / mur à bulles,Implant de la couche de médicament,Film de silicium,Filtre à film mince de nitrure d'aluminium / oxyde de zinc,Polyimide,Film transparent conducteur ito.

Filmetrics F50 appareil de mesure automatique de l'épaisseur du film Mapping

Système automatisé de dessin d'épaisseur de film,Grâce au système de mesure spectrale spécial f50, vous pouvez obtenir une ligne droite maximale très simplement et rapidementCarte de répartition de l'épaisseur d'un film échantillon de 450 mm de diamètre. Utilisant une plate - forme mobile de coordonnées R - Thêta polaires,Il est possible de localiser très rapidement le point du test souhaité et d'obtenir l'épaisseur du test en temps réel, de l'ordre dePeut tester deux points par seconde. Le système F50 configure une plate - forme mobile de haute précision et de longue durée de vie qui vise àRéalisation de millions de mesures.

Applications associées:Fabrication de semi - conducteurs LCD affichage à cristaux liquides,Colle lithographique,Polyimide,Oxydes / nitrures / soi,FILM CONDUCTEUR TRANSPARENT Ito,Broyage du dos de la plaquette,Microsystèmes électromécaniques MEMS à revêtement optique,Revêtement dur,Colle lithographique,Couche antireflet,Couche de Réticule de silicium.

KLA Zeta-20 Profilomètre confocal à lumière blanche

Module de test optique multifonctionnel,Zeta - 20 offre une variété de technologies de test optique pour répondre aux besoins de test des utilisateurs dans divers domaines.Basé sur la technologie zdot, le Zeta - 20 peut effectuer des analyses d'imagerie sur presque tous les matériaux et structures, de l'ultra - lisse à la haute rugosité, de la faible réflectivité à la haute réflectivité.Surface émissive, milieu transparent à opaque.

Applications associées:Dispositif fluide de logo、Surface de la plaquette IC,Dispositifs MEMS,Engrenage de logo / Microgrid, perforation laser, bord inversé de disque- Oui.

KLA iMicroTesteur nanomécanique

Des tests mécaniques flexibles et faciles à utiliser peuvent être largement utilisés dans divers matériaux et applications,Imicro Nano pour l'indentation, la dureté, les tests de rayures et les tests nanométriques diversifiésConception d'essais mécaniques de niveau. Imicro dispose d'un pilote de chargement Multi - échelle, mis en œuvre dans une large gammeLa gamme de charge et de déplacement étendue est mesurée.

Applications associées:Revêtement dur,Céramique et verre,Métaux et alliages,Matériaux composites,Peintures et peintures,Dispositifs médicaux,Semi - conducteurs,Batteries et matériaux de stockage d'énergie,Automobile et aérospatiale

Profilm3d interféromètre à lumière blanche

Profilm3d utilise le balayage interférométrique vertical (wli) avec une technologie d'interférence de phase (PSI) de haute précision. Réaliser des études de topographie de surface à l'échelle sous - nanométrique avec un rapport qualité - prix puissant.

Applications associées:Mesure de rugosité; Caractérisation topographique tridimensionnelle; Mesure de la hauteur des marches

FS - 1 ellipsomètre Multi - longueur d'onde

L'ellipsomètre Multi - longueur d'onde film sense FS - 1 utilise une source lumineuse à LED longue durée de vie et un détecteur d'Ellipsométrie à composants non mobiles pour des mesures de film fiables dans un ellipsomètre compact simple à utiliser.

Applications associées:Silice et nitrures, matériaux diélectriques élevés et faibles, matériaux amorphes et polycristallins, films minces de silicium, colles photolithographiques.Films à indice élevé et faible tels que SiO2, TiO2, Ta2O5, MgF2.TCO (par exemple ITO), film de silicium amorphe, film organique (technologie OLED), etc.