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Microscope à rayons X Zeiss versaxrm 730
Microscope à rayons X Zeiss versaxrm 615
Les deux nouveaux produits permettent une imagerie haute résolution à haute résolution tout en prenant en charge l'extension Quick Scan pour une imagerie 3D rapide en moins d'une minute, et sont livrés de série avec le logiciel de contrôle du système zen Navx et des capacités de refactorisation avancées basées sur l'IA, intelligentes et simples, de haute qualité et efficaces.
Les nouveaux microscopes à rayons X Zeiss versaxrm 730 et versaxrm 615 mèneront les utilisateurs de la recherche scientifique et industrielle vers de nouveaux sommets de recherche à l'ère du balayage rapide.
●Détecteur d'objectif 40x - prime sans peur de la haute pression
√ résolution spatiale jusqu'à 450 nm,
√ 3Résolution spatiale ≤ 500nm peut être atteint à pleine tension 0kv - 160kv
√Grande distance de travail haute résolution (Raad) Performance:
700nm@50mm
750nm@100mm
Système versaxrm 730 avec détecteur d'objectif 40x - prime en option
↓ cas d'imagerie
● logiciel de contrôle du système intelligent et facile à utiliser zen Navx
La gamme de microscopes à rayons X Zeiss versaxrm utilise un nouveau système de contrôle conçu pour être centré sur l'homme, ce qui rend l'opération plus facile et l'imagerie 3D plus efficace.
√ conception d'interface et de processus centrés sur l'homme, opérations complexes instantanément simplifiées,
√ smartshield système d'évitement des collisions intelligent, escorte pour l'exploration expérimentale,
√ recommandation de paramètre entièrement automatique, chaque échantillon de type différent peut obtenir des images de haute qualité,
√ fonctions logicielles intégrées pour faciliter l'acquisition de données et la reconstruction 3D automatisée.
● boîte à outils de refactorisation avancée basée sur l'IA
La gamme complète de versaxrm est livrée en standard avec des stations de traitement de données hautes performances et 2 ans de licence deeprecon pro Advanced Refactoring tool. Plus d'intelligence artificielleMaintenez, pour obtenir une amélioration supplémentaire de la qualité et de l'efficacité de l'imagerie.
↓ cas d'imagerie
●Nouveau mode d'acquisition rapide de données 3D fast mode
Nouveau mode d'acquisition de données basé sur l'extension de tablette (fpx) et zen Navx.
√Acquisition complète des données de projection nécessaires à la reconstruction 3D de l'échantillon en 1 minute, efficacité d'imagerie grandement améliorée,
√ du grand champ de vision à la résolution élevée pour un positionnement rapide et une imagerie agrandie.
●Mise à niveau et expansion pour les anciens et les nouveaux utilisateurs
Il convient de mentionner que, fidèle à la philosophie de conception cohérente des microscopes à rayons X de Zeiss, les deux nouveaux modèles de microscopes à rayons X continuent de conserver des caractéristiques évolutives et évolutives afin de maximiser la protection des investissements des anciens et des nouveaux utilisateurs et de garantir que vos appareils ne tombent pas dans l'armée pour s'adapter aux innovations technologiques futures.
Route de mise à niveau du système d'imagerie microscopique à rayons X Zeiss
