Caractérisation de haute qualité avec une nouvelle sélection pour la préparation des échantillons, le Zeiss Crossbeam 330 FIB - SEM est officiellement lancé!

Les produits de faisceau d'ions focalisés sontUn outil central pour la transformation de la R & D des matériaux de « pilotée par l’expérience » à « pilotée par les données », dansSciences des matériaux, sciences de la vie, essais industriels,Semi - conducteursDomaines tels que l'analyse de défaillanceJoue un rôle irremplaçable，EtCaractérisation de haute qualité, préparation des échantillons et reconstitution 3DpositifEst son scénario d'application large et central- Oui.

Zeiss continue d'approfondir sa stratégie de localisation et lance le Crossbeam 330, un tout nouveau miroir électrique à balayage par faisceau d'ions focalisé, à partir du marché chinois pour répondre aux besoins de localisation de la recherche scientifique.Le Crossbeam 330 est conçu pour des scénarios de base tels que la caractérisation de haute qualité, la préparation d'échantillons,Couverture complète d'imagerie / analyse de section de haute qualité, préparation d'échantillons TEM grâce à l'intégration profonde de cylindres électroniques et ioniques,Micro et Nano - usinage、 Exigences d'application telles que la caractérisation 3D.Le cylindre de miroir magnétique sans fuite spécialement conçu avec la technologie de décélération intégrée au cylindre peut facilement être équipé d'échantillons complexes magnétiques, non conducteurs et autres, sans prétraitement complexe, et peut être surveillé en temps réel pendant le processus de traitement, permettant une caractérisation à haute résolution et un traitement précis.

Les trois grandsSpécial longPour:

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“Forte« et CaractérisationPour:L'imagerie de haute qualité et la compatibilité totale des échantillons grâce à l'optique électronique classique Gemini vous permettent de rivaliser avec l'excellence en FIBL’expérience d’imagerie du SEM

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Préparation "rapide"Pour:Une bonne capacité de caractérisation associée à un canon à ions à haut débit permet une préparation rapide des échantillons de section et une caractérisation de haute qualité des structures sous - superficielles

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« facile » TEM: extraordinaireLa performance du faisceau d'ions assure la préparation facile d'échantillons de lamelles TEM de haute qualité; L'intégration de processus automatisés entièrement nouveaux et d'un logiciel facile à utiliser peut réduire considérablement les défis liés à la préparation d'échantillons de flocons TEM.

De l'analyse globale macroscopique à l'étude approfondie des mécanismes microscopiques, la recherche de pointe évolue rapidement dans une direction Multi - dimensionnelle et inter - échelle, où les exigences de caractérisation complexes et systématiques sont devenues une caractéristique centrale des percées scientifiques et de l'innovation industrielle, apportant également des défis réels tels que la fragmentation des données, La complexité des opérations Multi - appareils et la fragmentation des processus analytiques.

Crossbeam 330 peut être intégré de manière transparente dans Zeiss Cross - échelle, multimodal solutions de caractérisation du syndrome, avantages uniques de caractérisation de différents dispositifs tels que la microscopie optique à liaison profonde, Microscopie à rayons X, etc., la mise en œuvre automatisée de l'échelle centimétrique à l'échelle nanométriqueROICaractérisation continue et analyse multimodale，Briser les barrières techniques entre les équipements，La résolution systématique des besoins de recherche complexes.

Intégration transparente dans la recherche multi - échelle pour répondre systématiquement aux besoins de recherche complexes:

Processus d'association de microscopie à rayons X et de microscopie à balayage par faisceau d'ions focalisé (xrm - FIB) pour la localisation, l'exposition, la caractérisation et l'analyse des contaminants de la batterie

Grâce à ses excellentes capacités d'imagerie et de préparation d'échantillons, à ses processus opérationnels plus intelligents et à sa plate - forme d'intégration multimodale, le nouveau miroir électrique à balayage par faisceau d'ions focalisé Zeiss Crossbeam 330 est conçu pourNouveaux matériaux, métaux, nouvelles énergies, sciences de la terre, semi - conducteurs électroniques et sciences de la vie, etc.Les domaines de pointe offrent des solutions de caractérisation et de traitement à guichet unique efficaces et fiables pour vous aider à réaliser des percées scientifiques et des mises à niveau industrielles de plus haut niveau.