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Beijing Chuangpu Technology Co., Ltd
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Spectromètre libs de laboratoire / de bureau

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Vue d'ensemble

Le système de spectroscopie de claquage laser libs intégré en laboratoire comprend un laser, un spectromètre, un système d'acquisition de chemin optique, un système de contrôle de liaison de table de déplacement 3D, un système d'acquisition de liaison d'image à double caméra, etc., extensible et très flexible, idéal pour la recherche scientifique, l'Expérience d'application optique libs, le Centre d'application optique et d'autres utilisateurs, peut configurer une variété de lasers et de sondes selon les besoins de l'utilisateur, un choix flexible très pratique pour configurer le laser et le spectromètre.

Détails du produit

实验室/台式LIBS光谱仪

Système de spectroscopie de claquage induite par laser libs

Le système de spectroscopie de claquage induite par laser libs (Laser Induced Breakdown Spectroscopy) est la focalisation d'un laser à impulsions ultracourtes sur la surface de l'échantillon pour former un plasma, l'analyse du spectre d'émission du plasma à l'aide d'un spectromètre, l'identification des composants élémentaires de l'échantillon, l'identification, la classification, l'analyse qualitative et quantitative des matériaux.

TrLIBS-LABLaboratoireLe système de spectroscopie de claquage induite par laser libs se compose principalement d'un laser, d'un spectromètre haute résolution, d'une sonde de collecte de chemin optique libs, d'une cellule d'échantillon XYZ, d'un contrôleur de retard de déclenchement, etc. grâce à sa conception modulaire, il est hautement évolutif et idéal pour la recherche scientifique, les expériences d'application optique libs, les centres d'application optique et d'autres utilisateurs. Différents lasers et spectromètres peuvent être configurés de manière flexible en fonction des besoins spécifiques.

Principaux domaines d'application

lAnalyse charbonnière, analyse des produits de combustion

lAnalyse de composition en ligne pour l'industrie métallurgique

lExploration minérale, analyse en ligne de la qualité du minerai

lAnalyse des métaux lourds du sol, Biomatériaux, aérosols, nanoparticules

lMatières nucléaires, déchets, produits pétroliers

lMatériaux de construction, archéologie, fonderie, détection de bijoux en or

Les limites de détection libs dépendent en grande partie du type d'échantillon testé, du type d'élément et de la configuration spécifique du laser et du spectromètre. Pour les raisons qui précèdent, la limite de détection de libs peut aller de quelques ppm jusqu'à des valeurs de l'ordre de%. Dans la plupart des applications classiques, la limite de détection libs peut aller de 10 ppm à 100 ppm pour la grande majorité des éléments. En analyse quantitative, l'écart type relatif des résultats de mesure obtenus par libs peut aller jusqu'à 3 - 5% près, alors qu'il peut généralement aller jusqu'à 2% près, voire < 1% pour des matériaux homogènes.



Limites de détection habituelles pour libs

lLi, be, B, Na, Mg, Al, K, ca et autres éléments > 10 ppm soit 0001%

lTi, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Mo 等元素>100ppm即0.01%

lC, N, O, P, si et autres éléments > 200 ppm soit 0,02%

lF, Cl, BR, S et autres éléments > 0,5%



Avantages techniques

lLa vaste gamme d'analyses élémentaires comprendZ < 12 éléments légers (par exemple, C, H, O, N, Li, be, b) et éléments lourds

lLaboratoireSystème libs: comprend le laser, le spectromètre, le système d'acquisition de chemin optique, le système de commande de liaison de table de déplacement 3D, le système d'acquisition de liaison d'image de double caméra, etc.

lLogiciel d'analyse d'acquisition spectrale libs, identification de correspondance de recherche de pic élémentaire et prédiction de concentration élémentaire en ligne, logiciel de modélisation et d'analyse d'analyse quantitative de concentration élémentaire (méthode de hauteur de pic, méthode de surface de pic, rapport de hauteur de pic, rapport de surface de PIC)

lAnalyse de quelques secondes à quelques minutes plus rapide

lPresque aucun temps de préparation d'échantillon n'est requis, les échantillons solides peuvent être analysés même en poudre (ou en excipient ou liant)

lAucun réactif nécessaire, plus écologique et plus sûr

lNécessite moins d'échantillons que les autres instruments d'analyse élémentaire

lAnalyse en profondeur et dessin stéréoscopique au niveau du micron

lAnalyse micro à macro, analyse précise dirigée et flexible

lClassification qualitative des échantillons ou concentration quantitative des éléments

lPlusieurs options de laser et de sonde d'acquisition spectrale peuvent être configurées pour s'adapter à vos besoins

lLa plupart des éléments sont limités à10 ppm à quelques dizaines de PPM




Paramètres techniques

modèle

TrLIBS-LAB

Gamme de mesure des éléments

Numéro atomiqueZ≥1 comprend les éléments organiques tels que c, H, O, et les éléments légers tels que n, Li, be, B, et presque tous les éléments métalliques et non métalliques.

Gamme de concentration

Niveau de 10 ppm à% (selon l'élément et la configuration de l'instrument)

Temps d'analyse

<30S

Type d'analyse

Analyse qualitative et quantitative

Spectromètre

Spectromètre à quatre canaux, longueur d'onde λ = 190-820nm, Résolution 0.2nm

Spectromètre à huit canaux, longueur d'onde λ = 190-1070nm, Résolution 0.1nm

Laser

ND - YAG: longueur d'onde 266 nm, 50 mJ / impulsion; Ou 1064nm longueur d'onde, 100 - 200 MJ / impulsion

Fréquence 10hz, largeur d'impulsion 5 - 10ns avec système de refroidissement par eau

Fenêtre d'échantillon et positionnement

XYZ trois axes entièrement automatique pour positionner librement la table d'échantillon, course jusqu'à 50mm,

Entraînement par moteur pas à pas, précision de positionnement5 µm

Imagerie des échantillons

Configuration à double objectif,5X objectif grand angle pour l'observation de grand champ de vision

Objectif à grossissement élevé 400x pour un positionnement microscopique précis; Avec éclairage LED

Analyser la taille du spot

Minimum après mise au point25µm

Logiciel de spectroscopie libs

Logiciel d'acquisition de données spectrales libs, logiciel contrôlable (banc d'échantillons, laser, mise au point,

Réglage des paramètres tels que l'imagerie et les opérations de contrôle)