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Équipement électromécanique Cie., Ltd de Hangzhou KeFu
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Diffractomètre à rétrodiffusion électronique EBSD

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Vue d'ensemble
L'introduction révolutionnaire de la technologie CMOS dans la technologie EBSD a été répétée à plusieurs reprises, ce qui a conduit la technologie EBSD à un domaine de recherche plus large et plus vaste. $R $N $R $N capteur CMOS personnalisé le capteur CMOS spécialement personnalisé prend en charge le détecteur EBSD Symmetry S3 pour des performances encore meilleures; Le C - nano + et le C - SWIFT + qui prennent en charge la série C + se caractérisent respectivement par une haute résolution et une vitesse élevée.
Détails du produit

Couplage fibre optique pour une haute sensibilité

Instruments Oxford Le CMOS EBSD utilise une optique couplée à fibre optique et la lumière entrante n'est pas limitée par l'ouverture de l'objectif. Par rapport au couplage conventionnel de la lentille, la sensibilité du détecteur est grandement améliorée et peut même être utilisée pour l'acquisition EBSD de matériaux sensibles de pérovskite organique et d'autres chardons de scandite diurne et diurne.

Écran Fluorescent haute température (facultatif)

Écran Fluorescent haute température nouvelle génération, utilisant la technologie de filtre optique infrarouge, il peut filtrer efficacement le fond arrière infrarouge causé par des températures élevées et conserver le signal artistique.

Type tout - puissant Détecteur EBSD

Le détecteur de diffraction par rétrodiffusion d'électrons symmetrys3 est la troisième génération de détecteurs de la gamme de produits polyvalents Symmetry. S3 combine l'analyse à haute vitesse (> 5700 spécimens par seconde) avec une variété d'excellentes fonctions pour assurer des performances encore plus exceptionnelles et répondre aux besoins de la recherche scientifique dans tous les domaines.

Symmetrys3 est un détecteur EBSD conçu pour fournir d'excellents résultats à partir de différents types d'échantillons. Système de caméra couplé à fibre optique sans lentille pour une sensibilité exceptionnelle dans toutes les conditions d'analyse, de l'analyse de matériaux sensibles à l'écoulement est à la caractérisation à grande vitesse d'échantillons conventionnels. La haute résolution des pixels combinée à un niveau garanti de distorsion sous - pixel font du S3 le choix idéal pour l'analyse approfondie des déformations et le travail EBSD de haute précision. La fonction d'inclinaison du détecteur commandée par logiciel garantit que pour chaque taille et forme d'échantillon, l'acquisition est effectuée dans des positions géométriques optimisées.

6 modes de caméra pour l'analyse quotidienne et de haute difficulté jusqu'à 1244x1024 pixels résolution d'image synchronisée vitesse d'acquisition > 5700 images / s avec une résolution simultanée de 156x128 pixels

Contrôle de levage d'écran fluorescent pour Symmetry S3. Quelle que soit la taille de l'échantillon, le haut et le bas, l'extrémité avant du détecteur reste toujours dans la meilleure position d'acquisition

Type haute résolution Détecteur EBSD

Le C - nano + est un excellent détecteur EBSD CMOS qui fournit des échantillons EBSD avec une résolution de mégapixels et garantit des vitesses d'analyse supérieures à 600 échantillons / seconde.

Ceci, combiné à la haute sensibilité apportée par son système optique à fibre optique, permet C - nano + est idéal pour l'analyse de haute précision de matériaux difficiles, y compris les céramiques et les minéraux.

Millions de pixels Résolution 1244x1024, vitesse d'acquisition simultanée jusqu'à 80 spécimens / S: idéal pour les études HR - EBSD ainsi que pour l'analyse détaillée des déformations et la qualification de phase vitesse d'analyse maximale jusqu'à 600 spécimens / s avec une résolution de 312x256 pixels et un flux de faisceau de seulement 3 na (sur acier, ni)

Nouvelle génération Logiciel de traitement de données EBSD

Configuration standard: pour répondre à vos besoins en analyse de données EBSD régulière

la plupart L'analyse de données EBSD, ce qui est nécessaire est le traitement de données conventionnel, comme la cartographie de diverses distributions de surface, la taille statistique des grains, l'analyse de la texture, la visualisation des joints de grains, l'étude des déformations, etc. Azteccrystal standard fournit des outils puissants et pratiques pour répondre à vos divers besoins de traitement de données. La vitesse de traitement d'azteccrystal a été considérablement améliorée et est idéale pour le traitement de données volumineuses acquises par des détecteurs CMOS EBSD à grande vitesse. Novice ou expert, vous êtes à portée de main!

ldépasser 30 cartes de distribution de faces pour des combinaisons infinies de tailles de grains personnalisées et instantanées, conformes aux normes ISO et ASTM, offrant plus de 30 paramètres de grain

lAnalyse texturale complète, y compris le diagramme polaire, le diagramme antipolaire et la fonction de distribution d'orientation

lAnalyse complète des joints de grains avec analyse différentielle d'orientation et tableaux statistiques détaillés sur la longueur des joints de grains

lAnalyse d'association avec des images électroniques, distorsion de la distribution recto - scolaire

EBSD电子背散射衍射仪