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Instrument de jiaospectrum (Suzhou) Co., Ltd
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Spectroscopie de fluorescence X à dispersion d'énergie RoHS Directive Éléments nocifs

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Vue d'ensemble

Sur la base de l'analyseur d'éléments R - 650rohs, le système d'échantillonnage automatique 88 bits a été mis à jour, combinant précision et fiabilité avec une expérience utilisateur intuitive, améliorant considérablement l'efficacité de la détection des produits, fournissant des solutions d'analyse élémentaire professionnelles et contribuant au développement de nombreux domaines. Spectroscopie de fluorescence X à dispersion d'énergie RoHS Directive Éléments nocifs

Détails du produit

Spectroscopie de fluorescence X à dispersion d'énergie RoHS Directive Éléments nocifs

Le R - 650 présente les avantages d'une préparation d'échantillon simple, d'une vitesse d'analyse rapide, d'une large gamme de contenus analytiques, d'une bonne reproductibilité et d'une grande précision. Il s'appuie sur le détecteur RoHS traditionnel et met à jour le système d'échantillonnage automatique 88 bits, combine précision et fiabilité avec une expérience utilisateur intuitive pour améliorer considérablement l'efficacité de la détection des produits, fournir des solutions d'analyse élémentaire professionnelles et contribuer au développement de nombreux domaines.

能量色散X射线荧光光谱  RoHS指令有害元素

Spécifications techniques

Dimensions de la cavité de l'échantillon

400mm × 340mm × 80mm

Dimensions de la cavité d'échantillon sous vide

φ100mm × h75mm

Dimensions extérieures

700 mm × 510 mm × 336 mm

Poids de la machine entière

56kg

Il est équipé d'une plate - forme d'échantillonnage automatique surdimensionnée de 88 bits, chaque bit d'échantillon est marqué numériquement, d'un bras robotisé flexible et d'un compartiment à vide à ouverture automatique. Le processus d'essai et la courbe de travail peuvent être choisis de manière autonome, et l'échantillon peut être échantillonné automatiquement et sans interruption après la fabrication d'échantillons par lots jetables, ce qui réduit non seulement le coût de l'échantillon, mais améliore également considérablement l'efficacité de l'échantillon.

能量色散X射线荧光光谱  RoHS指令有害元素

Caractéristiques de performance et de principe

Portée de l'analyse élémentaire

钠 (Na) ~ 铀(U)

Portée de l'analyse

ppm-99,99 %

Le détecteur

Américain amptek Silicon Drift SDD

État de la mesure

Poudre, solide, liquide

Système de filtrage collimaté

Collimateur + filtre Multi - combinaisons

Résolution

129eV ± 5eV

Temps d'analyse

Temps de test unique réglable

Méthode de réfrigération

Réfrigération électrique sans consommables

Précision analytique

Échantillons dont la teneur en RSD ≤ 0,05% (étalon national) est supérieure à 96%

Environnement de l'échantillon

État atmosphérique / état de vide

Puissance de travail

AC 220V ±5V, 50Hz

Capacité d'analyse élémentaire

Des dizaines d'éléments mesurables entre le sodium (Na) et l'uranium (u) en une seule fois

environnement de travail

Température intérieure 15 ~ 30 ℃; Humidité relative ≤ 80% (sans condensation)

Avantages fonctionnels

²Design extérieur: généreux et beau, robuste et multi - mode de protection de sécurité.

²Système de filtrage collimaté: collimateur + filtre Multi - combinaisons, commutation automatique du logiciel pour répondre à diverses applications de test.

²En utilisant le système de traitement du signal ses (multipiste numérique) développé par ses, il améliore efficacement le rapport crête - dos et rend la mesure plus précise.

²Système de dissipation de chaleur multidimensionnel: optimisez la conception de dissipation de chaleur tout - en - un, de sorte que les performances de dissipation de chaleur de l'ensemble de la machine soient plus améliorées et que le fonctionnement de la source de rayons X soit sûr.

²Système de sécurité radiologique: conception anti - fuite de rayonnement multiple, le niveau de protection radiologique appartient aux produits similaires.

²Système de vide: Choisissez le système de vide, optimisez l'environnement de test, améliorez la précision d'analyse des éléments légers tels que le magnésium - aluminium - silicium - phosphore - soufre et étendez considérablement la capacité d'analyse de l'analyseur de type R - 650.

²Technologie de surveillance de la température du Mouvement pour assurer un fonctionnement sûr et fiable de la source de rayons, prolonger efficacement sa durée de vie et réduire les coûts d'utilisation.

Avantages Hardware

Le détecteur

Sonde SDD d'origine américaine amptek Silicon Drift, résolution à 129ev ± 5ev, excellente linéarité énergétique et résolution énergétique, ratio de crête arrière

Tubes à rayons X

: puissance maximale 50W, tension du tube 5 - 50kv, courant du tube 0 - 1000ua; tube à rayons X longue durée (commutable RH, AG, w).

Alimentation haute tension

Puissance maximale 50 W, tension 0 - 50 KV, courant 0 - 1000ua, stabilité 8 heures ≤ 0,05%.

Processeur de signal

Adopte le processeur de signal importé, s'adapte à la haute résolution et au taux de comptage élevé, grossissement auto - ajustable, nombre d'avenues le plus élevé: 4096.


Processus de test

能量色散X射线荧光光谱  RoHS指令有害元素

Domaines d'application

能量色散X射线荧光光谱  RoHS指令有害元素

Spectroscopie de fluorescence X à dispersion d'énergie RoHS Directive Éléments nocifs