Microscope électronique à balayage par émission de champ

Zeiss geminisem 360

Fe - SEM répond aux exigences élevées de l'imagerie subnanométrique, de l'analyse et de la flexibilité des échantillons

Zeiss geminisem vous aide à réaliser facilement des images avec des résolutions Sub - nanométriques. L'excellente technologie d'imagerie et d'analyse rend le Fe - SEM (Microscope électronique à balayage par émission de champ), comme des ailes de tigre. Nous utilisons un système optique électronique innovant et une toute nouvelle conception de bac à échantillons, non seulement pour une utilisation plus facile et plus flexible, mais également pour une meilleure qualité d'image. Les images à l'échelle sous - nanométrique inférieures à 1 kV peuvent être prises sans objectif immergé dans l'eau. Découvrez trois designs de systèmes optiques électroniques Zeiss Gemini:

lIdéal pour une plateforme de test analytique- Zeiss geminisem 360

lRéaliser une analyse efficace– –Zeiss geminisem 460

lUne nouvelle norme en imagerie de surface– –CaiDivision geminisem 560

GeminiSEM 360（Microscope électronique à balayage par émission de champ) etEst l'équipement idéal pour votre plate - forme de test analytique, offrant une fonctionnalité bénéfique pour les domaines des matériaux et des sciences de la vie, de l'industrie. Avec son barillet optique électronique gemini1, geminisem 360 offre une imagerie et une analyse haute résolution pour une grande variété d'applications et de types d'échantillons.

✔Flexibilité d'échantillon élevée

✔Excellente expérience utilisateur

✔Capacité d'expansion exceptionnelle

Flexibilité d'échantillon élevée

✔ Le geminisem 360 est le dispositif idéal pour les plates - formes de test analytique, offrant des fonctionnalités bénéfiques pour les domaines des matériaux et des sciences de la vie, de l'industrie.

✔ La conception optique électronique Gemini 1 du même nom fournit des images haute résolution sensibles à la surface, avec une excellente résolution même dans des conditions de basse tension et une imagerie rapide dans des conditions de courant de sonde élevé.

✔ L'imagerie électronique secondaire et l'imagerie électronique par rétrodiffusion d'inlens permettent de recueillir simultanément des informations à haute résolution sur la topographie de surface et la linéarité des composants composites (tout comme les échantillons sensibles au faisceau d'électrons).

✔ Lors de l'imagerie d'échantillons isolés dans des conditions de vide faible (c'est - à - dire avec une pression variable), il n'est pas nécessaire de sacrifier la doublure inlens: nanovp garantit des fonctionnalités exceptionnelles qui garantissent que l'imagerie inlens est réalisée sans être influencée par les films de charge.

Excellente expérience utilisateur

✔ Geminisem 360 offre une excellente expérience utilisateur: grâce à son large champ de vision et à son tout nouveau bac à échantillons hautement personnalisé, il est facile de détecter même face à des échantillons de très grande taille.

✔ Profitez d'une navigation fluide grâce aux technologies d'imagerie associative et de microscopie associative de Zeiss zen Connect.

✔ Obtenez facilement des images nettes grâce aux fonctions automatiques telles que la fonction autofocus et le détecteur intelligent.

✔ Les ports EDS conçus géométriquement symétriquement et la géométrie coplanaire EDS / EBSD vous permettent d'effectuer des flux de travail d'imagerie et d'analyse efficaces.

✔ Zeiss Predictive service vous permet de tirer le meilleur parti du temps de fonctionnement de votre système et de bénéficier d'une maintenance régulière à tout moment.

Capacité d'expansion exceptionnelle

✔ La mise à niveau constante du système est une condition préalable à la protection de votre investissement. Par conséquent, geminisem 360 fait également partie de l'écosystème logiciel zen Core de Zeiss, ce qui vous permet de profiter de la commodité des mises à niveau du système.

✔ Zen Connect combine des données multimodales et multi - échelles, zen intellesis pour la segmentation d'images grâce à une intelligence artificielle avancée, zen Analytics module pour le reporting et l'analyse des données segmentées et zen Data Store vous permet de gérer vos projets de manière centralisée en connectant les données acquises par différents appareils dans votre laboratoire.

✔ En tant que membre de la communauté apeer, vous avez accès à des flux de travail et des scripts créés par d'autres utilisateurs pour vous aider à résoudre des énigmes à distance.

✔ Grâce à un chemin de mise à niveau clair, le système peut être encore amélioré avec la sortie de nouvelles fonctionnalités.

Introduction aux principes fondamentaux

Le Fe - SEM est spécialement conçu pour l'imagerie haute résolution et l'une des clés de la performance est son barillet optique électronique. Spécialement conçu pour atteindre une résolution exceptionnelle de n'importe quel échantillon (en particulier à basse tension d'accélération), Gemini permet une détection complète et efficace et est facile à utiliser.

Le système Gemini Electronic Optics présente les trois caractéristiques principales suivantes:

● La conception des objectifs Gemini combine les champs électrostatiques et électromagnétiques, ce qui réduit considérablement l'impact sur l'échantillon tout en améliorant considérablement les performances optiques. Cela permet également une imagerie de haute qualité des échantillons difficiles tels que les matériaux magnétiques.

● La technologie de propulseur de faisceau d'électrons Gemini est un réducteur de faisceau intégré qui assure une tache de faisceau d'électrons de petite taille et un rapport signal / bruit élevé.

● Le principe de conception de détection de Gemini inlens garantit une détection efficace du signal en détectant simultanément les électrons secondaires (se) et les électrons rétrodiffusés (ESB), réduisant considérablement le temps de l'image.

Pour votre application, il peut y avoir les avantages suivants:

✔ L'alignement de faisceau d'électrons SEM peut rester stable à long terme, et la modification du courant de sonde et de la tension d'accélération a peu d'effet sur le système.

✔ Un système optique pratiquement exempt de fuite de champ magnétique permet une imagerie haute résolution sans distorsion.

✔ Avec le détecteur inlens se, les images peuvent être générées par la technologie électronique true surface Sensitivity se 1, ce qui permet d'obtenir uniquement des informations sur les couches les plus élevées de l'échantillon.

✔ Obtenez une doublure réaliste de la composition du matériau à très basse tension grâce au concept de conception de détection du détecteur inlens ESB.