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Technologie Cie., Ltd de Wuhan Research Poe
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Technologie Cie., Ltd de Wuhan Research Poe

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Système de test d33 haute température

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Le système de test d33 haute température pdts - 600 utilise la méthode quasi statique pour compléter la mesure automatique de d33 dans des conditions de température variable à haute température, avec des caractéristiques telles que la précision de mesure élevée, la largeur de la zone de température, le réglage automatique du zéro et l'étalonnage.
Détails du produit

Système de test d33 haute température pdts - 600L'utilisation de la méthode quasi statique pour compléter la mesure automatique de d33 dans des conditions de changement de température à haute température, avec des caractéristiques telles que la précision de mesure élevée, la zone de température large, le réglage automatique du zéro et l'étalonnage.

Système de test d33 haute température pdts - 600:

Plage de température RT ~ 600℃

Précision de contrôle de la température ± 1℃

Vitesse de montée en température 1 ~ 10 ℃ / min

Type d'échantillon bloc

Épaisseur maximale de l'échantillon 20 mm

Taille maximale de l'échantillon Φ10 mm

Plage de mesure × 0,1 blocage 2 ~ 40 PC / N résolution 0,01 PC

Plage de mesure × 1 arrêt 10 ~ 2000 PC / N résolution 0,1 PC

Précision × 0,1 arrêt ≤ ± 5%

Précision × 1 arrêt ≤ ± 3% (d33 entre 200 ~ 2000 PC / n)

≤ ± 5% (d33 entre 20 et 200 PC / n)

Amplitude / fréquence de la force 0,25 N / 110 Hz

Mesures de protection avec surveillance de diagnostic de défaut de température contrôlée, fonction de protection automatique contre la coupure de courant de surchauffe

Successivement, l'Université des sciences et technologies de la Chine centrale, l'Institut Wenzhou de l'Université des sciences et technologies de la Chine centrale, l'Université du Hubei et d'autres unités utilisent l'option pdts - 600Système de test d33 haute températureS'il vous plaît consulter notre division pour les détails du produit.