Spectromètre XUV haute résolution à champ plat highlight

　　Avantages du produit:

● spectromètre à incidence rasante à champ plat

● excellente résolution spectrale

● La gamme de longueur d'onde est de 1 ~ 100nm

● mode haute efficacité sans fente

Sur le marché des spectromètres à correction de champ plat de type facile à utiliser, le highlight a une résolution spectrale élevée. Une seule mesure couvrant une large gamme spectrale permet d'obtenir une résolution spectrale meilleure que égale à 0006 nm. Dans le même temps, le client peut choisir d'utiliser ou non la fente d'entrée.

Les caractéristiques de conception modulaire de l'étagère à fente intégrée, du dispositif d'insertion de filtre et du dispositif de positionnement de réseau motorisé lui permettent de s'adapter à différentes géométries et configurations expérimentales.

Options de détecteur flexibles et parfaites:

Caméra CCD XUV pour haute résolution et plage dynamique élevée

Détecteur MCP / CMOS pour la couverture de longueur d'onde la plus large et le Gated, ainsi que pour la détection améliorée.

Design sans fente

La conception du spectromètre propriétaire de HPS utilise la technologie d'imagerie directe par source lumineuse. Ainsi, aucune fente d'entrée étroite n'est nécessaire et le faisceau incident peut être collecté au maximum. Par rapport aux spectromètres conventionnels, l'intensité lumineuse atteignant le détecteur sera 20 fois plus élevée. La structure améliore également considérablement la stabilité des opérations quotidiennes.

Paramètres techniques:

　Applications typiques:

● source de génération d'harmoniques supérieurs;

● science de l'attoseconde

● interaction laser et matière forte

● laser à électrons libres

● source de plasma générée par laser et décharge