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Pékin secma Environmental Instrument Co., Ltd
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Intellisem ePAS système intelligent d'analyse des particules ambiantes par électroscope à balayage

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Vue d'ensemble
Analyse automatique, rapide et puissante pour la caractérisation des particules ambiantes
Détails du produit

Environnement automatique, rapide et puissantAnalyse de caractérisation des particules

Profil du Groupe RJ Lee:

En tant que chef de file de l'industrie, RJ Lee Group sert les domaines des sciences de l'environnement, de la caractérisation des matériaux, de l'ingénierie médico - légale, de la gestion de l'information et fournit des solutions innovantes qui stimulent la recherche et résolvent des problèmes complexes grâce à l'expertise scientifique, à l'instrumentation, à la technologie et à l'esprit de collaboration. En plus de ses activités de laboratoire et de conseil, RJ Lee Group a 40 ans d'expérience continue dans la recherche et le développement, l'utilisation de miroirs électriques à balayage pour former un système logiciel intellisem précis, fiable et intuitif dont l'étendue de l'expérience n'a pas été égalée par la profondeur, et dans lequel intellisem est condensé avec une vaste expertise et expérience dans les systèmes de miroirs électriques à balayage contrôlés par ordinateur.

Résumé du système:

Intellisem ePAS (Environmental Particle Analysis System) développé par rjlee Labs (RJ Lee Group) combine des techniques de contrôle intelligentes et des méthodes de calcul spécialisées pour l'analyse des données avec un spectromètre à électroscopie à balayage (SEM - EDS) pour caractériser automatiquement, précisément et rapidement de grandes quantités de particules individuelles dans des échantillons environnementaux, offrant aux utilisateurs une multitude d'outils logiciels professionnels dotés de fonctionnalités puissantes pour l'analyse visuelle, l'exploration et la gestion des données.

Les avantages techniques uniques du système intellisem ePAS sont la combinaison de l'étendue et de la profondeur de l'analyse, l'efficacité du temps d'analyse rapide pour analyser des dizaines de milliers de particules individuelles par heure, l'acquisition complète et l'enregistrement de la géométrie, du spectre énergétique et des informations d'imagerie numérique de chaque particule, ce qui permet d'obtenir les caractéristiques globales de l'échantillon environnemental avec une grande confiance statistique et d'explorer en profondeur les caractéristiques détaillées de chaque particule individuelle.

Application du système:

* PM10、PM2.5、PM10-2.5、 Études de caractérisation des particules ultrafines;

* recherche sur la poussière;

* identification des métaux dans les particules ambiantes;

* identification des cendres volantes dans les particules ambiantes;

* Etude de la morphologie des particules de carbone (suie, bio, charbon);

* Études sur le transport à longue distance des particules;

* Évaluation de la biodisponibilité des métaux dans le sol;

* Étude des caractéristiques des émissions provenant de sources ponctuelles et de sources à surface non organisée;

* Étude de la résolution des sources de particules (modèle de récepteur);

* analyse des échantillons de l'échantillonneur passif UNC;


Caractéristiques du système:

* packages logiciels sur mesure pour l'analyse des particules dans l'environnement;

* très forte fonction d'analyse des particules, l'acquisition rapide des données d'analyse de caractérisation et des résultats d'analyse statistique d'un grand nombre de particules individuelles;

* opération intelligente d'analyse de miroir électrique de balayage - spectromètre d'énergie:

> sélection en un clic pour définir les paramètres d'analyse: luminosité / contraste, mise au point, Seuil, etc., sans intervention de l'utilisateur;

> surveillance en temps réel, instruments de réglage pour réaliser un fonctionnement analytique entièrement automatisé du miroir électrique à balayage et du spectromètre d'énergie;

> stockage automatique des images, spectres, données de mesure pour chaque particule;

> Calibration automatique et détection des performances du détecteur de rayons X;

> détection rapide et mesure précise des particules avec la technologie d'analyse d'image;

> identification et quantification instantanées des éléments par des algorithmes statistiques;

> classification, tri en temps réel des données d’analyse des particules;


* contrôle à distance et opération d'analyse à distance;

* contrôle transparent et repositionnement à distance de particules spécifiques pour une analyse plus approfondie;

* traitement agrégé / visualisation "post - analyse" des données d'analyse des particules à l'aide du banc intellisem;

> effectuer une microanalyse électronique « hors ligne »;

> traitement statistique et affichage graphique des images / spectres de particules déjà stockés;

> afficher toutes les données d'analyse des particules de manière interactive sur l'image de l'aperçu général de l'échantillon;


Composition du système:

Prospector – module d’acquisition et d’analyse de données / images en ligne. Sa fonction est de permettre un contrôle entièrement automatisé des miroirs électriques à balayage (SEM) et des spectromètres à rayons X (eds), en utilisant des algorithmes intelligents pour balayer rapidement de grandes zones de l'échantillon et déterminer finement les limites de chaque particule. Sur la base de mesures précises de la taille géométrique des particules, le prospecteur collecte et stocke des images numériques à fort grossissement de chaque particule, calcule la composition chimique des particules individuelles à partir des données d'analyse spectrale et stocke les données spectrales brutes et les résultats du traitement dans une base de données. Les algorithmes intelligents de « The Surveyor » garantissent un temps d’acquisition et une résolution de données optimaux pour répondre aux exigences de mesures précises et d’analyses rapides. Il existe deux modes de fonctionnement pour le "scrutateur": le "mode expert", qui permet à l'utilisateur professionnel de spécifier et d'affiner les options de chaque paramètre pour l'acquisition de données, et le "mode one touch", qui offre à l'utilisateur un schéma de paramétrage standard qui simplifie au maximum les opérations de l'utilisateur.

Workbench – module de traitement agrégé des données et de « post - analyse » visuelle. Sur le banc, les données brutes recueillies par le « sondeur » peuvent être transformées en résultats d’analyse dont l’utilisateur a besoin et présentées à l’aide de tableaux riches, de graphiques et d’images pour mieux interpréter et comprendre les données. Les outils fournis par la plate - forme comprennent: des tableaux sous forme de formulaires – présentant toutes les informations pour chaque particule unique; Vue générale – combine toutes les images, les données géométriques et spectrales et autres assemblages fusionnés en une seule vue multicouche de l’échantillon global du montage; Outils graphiques sérialisés – génération de diagrammes biphasés, triphasés et de tableaux de données; Interrogation et classification – faciliter la classification des particules pour la recherche et la production de rapports. Le "Workbench" peut être installé sur n'importe quel PC ayant accès à la base de données et les utilisateurs peuvent accéder et traiter les données d'analyse d'échantillons à distance via le réseau. La "table de travail" est aussi puissante qu'un système de spectroscopie à balayage monté sur un ordinateur portable.

Base de données / stockage d'images - le cerveau qui stocke toutes les données du "scrutateur". En combinant une base de données associative puissante avec un stockage réseau, n'importe quel ordinateur équipé d'un « Workbench » peut déclasser toutes les données et images de la base de données à l'état de réseau, l'approche de stockage de données intellisem est flexible et puissante - prend en charge plusieurs bases de données et la structure peut contenir des quantités presque illimitées de données, une approche qui contribue également à une sauvegarde hiérarchique efficace des données.


Processus d'analyse d'échantillons pour le système intellisem ePAS:

* Les images en niveaux de gris acquises par un miroir électrique à balayage sont utilisées pour détecter les particules;

* générer une image à particule unique de chaque particule;

* 45 mesures en boîte pour chaque particule unique, donnant 90 données de diamètre;

* effectuer des mesures par spectrométrie d'énergie (eds) pour obtenir la composition élémentaire d'une particule unique;

* traitement analytique des données sur « Workbench » une fois l’opération d’analyse terminée;


Prélèvement d'échantillons [UNC passive Sampler]

Le prélèvement d'échantillons du système intellisem ePAS a été effectué à l'aide d'un échantillonneur passif UNC qui utilise la technologie de l'Université de Caroline du Nord pour collecter des échantillons de pm2,5, PM10, PM10 - 2,5 principalement par échantillonnage passif par sédimentation gravitationnelle. Sa conception unique est idéale pour l'analyse par miroir électrique.

* technologie brevetée

* très bonne cohérence avec l'échantillonneur frm

* largement utilisé dans le monde entier *


Domaines de service:

* qualité de l'air ambiant;

* santé et sécurité environnementales;

* caractérisation des particules;

* microscope optique;

* miroir électrique à balayage (SEM);

* miroirs électriques à transmission (TEM / Stem);

* spectroscopie Raman;

* FTIR;

* industrie métallurgique;

* matériaux avancés et nanotechnologies;

* matériaux de construction;

* biotechnologie / médecine;

* criminalistique / criminalistique;


Force du laboratoire:

* miroirs électriques à transmission (TEM) / miroirs électriques à balayage (SEM);

* microscope optique;

* analyseur de spectre infrarouge de Fourier (FTIR);

* spectromètre Raman;

* chromatographie en phase gazeuse (GC) / chromatographie en phase gazeuse couplée à la spectrométrie de masse (gcms);

* spectre d'absorption atomique;

* chromatographie liquide haute performance (HPLC);

* spectrométrie de masse à plasma à couplage inductif (ICP - MS);

* chromatographie ionique (IC);

* analyseur thermogravimétrique (TGA);

* analyseur OC / EC;

* diffractomètre à rayons X (XRD);

* spectromètre de fluorescence X (XRF);