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Le système thermo Scientific K - alpha X - ray Photoelectron Spectrometer (XPS) apporte une nouvelle approche de l'analyse de surface. Le système K - alpha XPS se concentre sur la fourniture de résultats de haute qualité en utilisant un flux de travail simplifié, ce qui rend le fonctionnement XPS simple et intuitif sans sacrifier les performances ou les fonctionnalités. Le système K - alpha XPS est un système XPS monochrome intégré à petite tache doté de capacités de profilage en profondeur.
Des performances plus avancées, un prix inférieur, une facilité d'utilisation et des volumes de test d'échantillons plus importants font du système K - alpha XPS le choix idéal pour les environnements Multi - utilisateurs. Le système K - alpha XPS permet aux chercheurs du monde entier de réaliser des analyses de surface.
Le spectromètre photoélectronique à rayons X k - alpha est équipé d'un monochromateur à rayons X qui permet une sélection par pas de 5 µm dans la zone d'analyse de 50 µm à 400 µm pour rechercher le signal désiré.
Utilisez le système d'observation optique du système K - alpha XPS et XPS snapmap pour focaliser vos échantillons et vous aider à déterminer rapidement la zone d'analyse.
L'analyse de surfaces plus profondes a été réalisée à l'aide de la source d'ions ex06 équipée du spectromètre photoélectronique à rayons X k - alpha. Performance et reproductibilité expérimentale assurées par l'optimisation automatique des sources et les fonctions de traitement des gaz.
Une large gamme de bancs d'échantillons spéciaux assortis aux Spectromètres photoélectroniques à rayons X k - alpha sont disponibles pour votre choix, y compris pour le changement d'angle XPS, le test d'échantillon plus polarisation, ou le transfert inerte d'échantillons à partir de boîtes à gants et bien plus encore.
Lentilles électroniques à haute efficacité, analyseurs hémisphériques et détecteurs qui permettent une détection et une acquisition de données rapides grâce au spectromètre photoélectronique à rayons X k - alpha.
Dans un spectromètre photoélectronique à rayons X k - alpha, la source d'électrons à double faisceau obtenue couple un faisceau d'ions de faible énergie avec des électrons de faible énergie (moins de 1 EV), ce qui empêche la charge de l'échantillon pendant l'analyse, éliminant ainsi l'effet de charge dans la plupart des cas.
Le fonctionnement intuitif guidé par le système de données avantage rend le système K - alpha XPS idéal pour les utilisateurs multiples, les centres de test et les experts XPS qui se concentrent sur un fonctionnement efficace et des volumes de test élevés.
| Type d'analyseur |
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| Type de source de rayons X |
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| Taille du spot de rayons X |
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| Anatomie en profondeur |
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| Zone maximale de l'échantillon |
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| Épaisseur maximale de l'échantillon |
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| Système de vide |
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| Accessoires optionnels |
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