Spectrographe de défauts de balayage de la foudre

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Vue d'ensemble

Le Laser Scan Defect Imager est une version améliorée du test lbic (Laser Beam Induced Current). Il utilise un faisceau laser dont l'énergie de longueur d'onde est supérieure à la bande interdite du semi - conducteur pour éclairer le semi - conducteur, créant des paires de trous d'électrons. En balayant rapidement la surface de l'échantillon, on obtient une distribution d'image révélant les variations du courant interne et on analyse ainsi les différentes distributions de défauts. Cela aide à analyser la qualité de la préparation des échantillons et contribue à l'amélioration du processus.

Détails du produit

Présentation du produit

Obtenez une image complète en 4 minutes et scannez des zones de 100 mm x 100 mm avec une résolution de 50 microns

　　Le stresslumièreL'imageur de défaut de balayage est une version améliorée du test de courant induit par faisceau laser (lbic). Il utilise un faisceau laser avec une énergie de longueur d'onde supérieure à l'entrefer du semi - conducteur pour éclairer le semi - conducteur, créant une paire électron - trou électrique. Une analyse rapide de la surface de l'échantillon permet d'obtenir une distribution d'images révélant les variations du courant interne pour analyser la distribution des défauts. Cela facilite l'analyse de la qualité de la préparation des échantillons et contribue à l'amélioration du processus de préparation.

Caractéristiques

●Distribution du courant photogénéré par balayage

●Distribution de tension optique de balayage

●Distribution de la tension de circuit ouvert et du courant de court - circuit de balayage

●Analyse de la contamination des surfaces

●Analyse de la distribution des zones de court - circuit

●Identification et analyse des zones de microfissures

●Analyse de la distribution des longueurs de diffusion des porteurs minoritaires (fonction choisie)

Application

雷射扫描缺陷图谱仪

Distribution de photocourant des cellules solaires en silicium (405 nm)

雷射扫描缺陷图谱仪

Balayage de la cellule solaire cristalline de silicium de 6 pouces (17 secondes)

雷射扫描缺陷图谱仪

Batterie solaire pérovskite

雷射扫描缺陷图谱仪

Carte de distribution du courant de réponse optique lsd4 - OPV

雷射扫描缺陷图谱仪

Carte de distribution du courant de réponse optique lsd4 - OPV

Analyse des inhomogénéités avec une résolution de 50 µm

Détection du rapport d'aspect bus / grille (analyse en coupe)

Répétabilité élevée (6 répétitions)

spécification

projet	Description des paramètres.
fonction	A. utilisation d'un faisceau laser de longueur d'onde avec une énergie supérieure à la bande interdite du semi - conducteur pour créer des paires de trous d'électrons dans le semi - conducteur, explorer l'influence de la zone de déplétion sur les variations de courant interne, comprendre et analyser diverses distributions de défauts comme une direction pour l'amélioration du processus. B. capable de scanner la distribution du courant photogénéré sur la surface de l'échantillon. C. capable de scanner la distribution de la phototension sur la surface de l'échantillon. D. capable de balayer la distribution de la tension de circuit ouvert et du courant de court - circuit. E. capable d'analyser la contamination de surface. F. capable d'analyser la distribution des zones de court - circuit. G. capable d'identifier et d'analyser les zones de microfissures. H. capable d'analyser la distribution des longueurs de diffusion des porteurs minoritaires (facultatif).
Source d'excitation	405 ± 10nm laser 520 ± 10nm laser 635 ± 10nm laser 830 ± 10nm laser
Zone de scan	≥ 100mm × 100mm
Taille du spot laser	Approche du point de mode TEM00
Résolution de la cartographie	A. résolution de balayage ≤ 50 µm B. la résolution de balayage peut être réglée par le logiciel
Temps de cartographie	< 4 minutes (100mm × 100mm, résolution 50um)
Aspects	60 cm * 60 cm * 100 cm
logiciel	A. visualisation 3D par lbic B. Analyse de section 2d (rapport d'aspect d'électrode) C. analyse de la distribution de la réponse photoactuelle (en combinaison avec une source laser à longue longueur d'onde) D. fonctions de sauvegarde et d'exportation des données

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