Spectre de luminosité leco

Spectre de luminosité lecoCombinant une source d'ions à décharge luminescente et un analyseur de qualité à haute résolution à double foyer, il est possible d'analyser qualitativement et quantitativement presque tous les éléments, y compris C, N, O, dans un échantillon solide, est une analyse directe et rapide du contenu du magazine de l'échantillon de haute pureté et de La composition des éléments du matériau de revêtement.Les outils.

Spectre de luminosité lecoDéfinir de nouvelles normes pour l'analyse directe de matériaux de haute pureté de haute qualité dans les solides. En minimisant les opérations d'étalonnage et de préparation des échantillons, les volumes de traitement des échantillons peuvent être augmentés et les limites de détection ultra - basses peuvent être atteintes, ce qui rend le Gd - MS adapté aux applications d'analyse de métaux monolithiques et de profilage en profondeur.
Les céramiques et plusieurs autres poudres non conductrices sont analysées en utilisant la méthode des électrodes secondaires, offrant ainsi le même niveau de sensibilité et de qualité des données. Cela fait de Gd - MS une méthode fiable et standard pour l'analyse des métaux traces.
Presque tous les éléments présents dans les échantillons solides peuvent être détectés et quantifiés de manière conventionnelle: de nombreux éléments sont présents en dessous du taux de parties par milliard (ppb).
µs pulsé haute vitesse Glow décharge batterie
Source d'ions haute sensibilité avec mode de décharge pulsée
Taux de pulvérisation largement réglable pour des analyses globales rapides et des applications avancées de profilage en profondeur
Analyse de poudre d'alumine à l'aide d'électrodes secondaires
Spectromètre de masse à double foyer
Le taux de transmission ionique élevé et le faible fond rendent le rapport signal sur bruit jusqu'à la limite de détection inférieure au ppb
La résolution de haute qualité peut fournir zui haut niveau de sélectivité et de précision: Oui * pré - requis pour les résultats d'analyse
Système de détection automatique de l'ordre de douze
Détermination de la matrice et des éléments ultratraces en une seule analyse avec un détecteur entièrement automatique couvrant une plage linéaire dynamique de l'ordre de 12 grandeurs
Détermination quantitative directe de l'élément de matrice IBR (rapport de faisceau d'ions)
Package efficace et simple à utiliser
Tous les paramètres sont contrôlés par ordinateur
Réglage, analyse et évaluation des données entièrement automatisés
Connectivité automatique LIMS
Contrôle et diagnostic à distance
pour Windows 7
Le délai d'exécution de l'échantillon est généralement inférieur à 10 minutes
Capable de déterminer des éléments de matrice à des éléments ultratraces en une seule analyse
La dissection en profondeur couvre des épaisseurs de couche de plusieurs centaines de microns à un nanomètre
Effet de matrice réduit pour faciliter la quantification directe