Système d'inspection Leica dm3‑xl pour la microélectronique et les semi - conducteurs

NégociableMise à jour sur01/12

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Vue d'ensemble

Dans les industries de la microélectronique et des semi - conducteurs, la rapidité de l'inspection, du contrôle des processus ou de l'analyse des défauts et des défaillances est essentielle. Plus vite vous détecterez les défauts, plus vite vous répondrez. Le système d'inspection dm3 XL aide votre équipe à identifier les défauts plus rapidement et à améliorer votre rendement grâce à son grand champ de vision. Profitez d'un objectif macro unique avec un champ de vision spacieux de 30%.

Détails du produit

Plus de détails vue panoramique pour travailler plus efficacement

Voir plus de détails signifie travailler plus efficacement. Pour la numérisation rapide de gros composants jusqu'à 6 ", le dm3 XL offre un objectif macro unique.

Avec un grossissement de 0,7x, il capture instantanément un champ de vision de 35,7 mm, soit 30% plus spacieux que les autres objectifs à balayage conventionnels.

Sous l'objectif macroscopique, le défaut n'a aucune forme:

Améliorez votre rendement
Détection fiable des zones insuffisamment développées sur les bords ou au centre de la plaquette
Détection d'épaisseur de film radial non uniforme

LED pour toutes les méthodes d'observation en phase

Le dm3 XL utilise un éclairage LED pour toutes les méthodes d'observation en phase. L'éclairage LED fournit une température de couleur constante et une imagerie couleur réelle dans toutes les classes de luminosité.

Imagerie couleur réelle dans toutes les classes de luminosité

Régulation libre
Pas besoin de changer les ampoules – pas de temps d’arrêt
Résultats reproductibles

En raison de leur longue durée de vie et de leur faible consommation d'énergie, les LED ont également un énorme potentiel d'économie de coûts.

Optique « main haute »

Le dm3 XL vous permet de profiter de performances optiques exceptionnelles à un prix abordable.

Inspection des côtés, des bords ou des débris avec éclairage oblique: illuminez l'échantillon sous différents angles d'une manière simple et efficace, permettant la visualisation de différentes topographies.
Détecter de minuscules rayures ou de petites particules dans les couches inférieures de l'échantillon à l'aide d'un contraste de champ sombre profond.

Vous serez étonné par la sensibilité et la résolution nettement améliorées.

Différents échantillons – insert de table de chargement variable

Quel que soit le type d'échantillon que vous souhaitez inspecter et quelle que soit la taille, il existe une large gamme d'Inserts de table de chargement pour votre choix:

Dimensions de la table de chargement: 150 mm x 150 mm
Inserts de table de support: Inserts métalliques, supports de plaquettes ou supports de masque
Positionnement rapide de la table de chargement grossier ou précis

Travail confortable et intuitif

L'assistance ccda (color coding Aperture assist) simplifie les réglages de base de la résolution, du contraste et de la profondeur de champ pour vous aider à accélérer votre travail et à minimiser les erreurs de fonctionnement.

Des fonctionnalités intuitives et claires aident votre équipe à livrer les meilleurs résultats plus rapidement.

Grâce aux commandes faciles à manipuler, l'utilisateur peut continuer à utiliser le microscope avec les deux mains et se concentrer sur l'échantillon tout en commutant le contraste ou l'éclairage.
La main droite peut facilement manipuler le Contrôleur d'intensité lumineuse
Ajustez le microscope en fonction de différentes hauteurs à l'aide du cylindre ergonomique variable et du bouton de mise au point

~ pour plus de détails sur les produits, appelez - nous au 021 - 80109380 ~

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