Coupe - faisceau Triple ion Leica em TIC 3x

Technologie de faisceau à trois Ions

Les composants du faisceau d'ions triples sont perpendiculaires à la surface latérale de l'échantillon, de sorte que l'échantillon (fixé au porte - échantillon) n'a pas besoin de faire un mouvement d'oscillation pour réduire l'effet de projection / occlusion lors du bombardment par faisceau d'ions, ce qui garantit à son tour une conduction thermique efficace, réduisant la déformation thermique de l'échantillon lors du traitement.
Technologie
Le faisceau de trois ions converge vers le milieu du bord de la chicane pour former un secteur de bombardment de 100 ° exposé tangentiellement à l'échantillon au - dessus de la chicane (l'extrémité supérieure de l'échantillon est d'environ 20 - 100 µm au - dessus de la chicane) jusqu'à ce que le bombardment atteigne la zone Cible interne de l'échantillon. La vitesse de broyage du faisceau d'ions pouvant être générée par le canon à ions nouvellement conçu atteint 300 µm / H (si10 KV, 3,0 ma, hauteur de coupe de 50 µm). Le système de faisceau à trois ions unique de Leica permet d'obtenir d'excellentes sections de coupe de haute qualité avec des vitesses élevées et des surfaces de coupe larges et profondes, ce qui permet d'économiser considérablement le temps de travail. Grâce à cette technologie unique, des sections de coupe de haute qualité sont obtenues avec des dimensions de zone allant jusqu'à > 4 × 1 mm

Leica em TIC 3x - caractéristiques innovantes en termes de conception et de fonctionnement

Haut débit, amélioration des gains de coûts
›› obtenez des sections de coupe de haute qualité avec des dimensions de zone allant jusqu'à > 4 × 1 mm
›› table de diversité conçue pour contenir trois échantillons à la fois
›› haute vitesse de broyage ionique, matériau si 300 μm / h, hauteur de coupe de 50 μm, peut répondre aux exigences de haut débit du laboratoire
›› peut contenir des échantillons jusqu'à 50×50×10mm
›› porte - échantillons à utiliser nombreux et variés simples à utiliser, haute précision
›› le travail d'étalonnage pour le montage de l'échantillon sur la table et le réglage de la position opposée au volet peut être effectué facilement et avec précision
›› manipulation simple via l'écran tactile, aucune compétence particulière n'est requise
›› le processus de traitement des échantillons peut être surveillé en temps réel et peut être observé avec un miroir de vision corporelle ou une caméra HD - TV
›› Éclairage LED pour une observation facile des échantillons et un étalonnage de position
›› intégré, système de pompe à vide conçu pour découpler, offrant un champ de vision sans vibrations
›› le renforcement de la doublure, c'est - à - dire le traitement de gravure par faisceau d'ions, peut être effectué de nouveau sur la Section de coupe plane préparée.
›› téléchargement ou téléchargement de paramètres et programmes via USB
›› convient à presque tous les échantillons de matériaux
›› avec la table d'échantillons congelée, la température du baffle et de l'échantillon peut descendre jusqu'à - 150°c

Une grande variété de porte - échantillons

Convient pour presque toutes sortes d'échantillons de taille et convient à une large gamme d'utilisations. Avec un porte - échantillon, vous pouvez effectuer une pré - préparation mécanique (Leica em txp) à une découpe par faisceau d'ions (Leica em TIC 3x), ainsi qu'une microscopie Sem, avant de placer l'échantillon dans une boîte de stockage pour une détection ultérieure.

Amélioration de la doublure

Après la coupe par faisceau d'ions, il n'est pas nécessaire de retirer l'échantillon, l'utilisation de la même table d'échantillon peut également renforcer la doublure de l'échantillon, peut renforcer la topologie avant les différentes phases dans l'échantillon (par exemple, joints de grain)

Haute précision

Maintenant, les structures de détail de plus en plus petites dans les échantillons attirent progressivement l'attention. Et l'obtention de sections par découpe, comme l'obtention d'une structure de trou tsvia minuscule, est devenue un jeu d'enfant. Toutes les tables d'échantillonnage sont conçues pour atteindre une précision d'étalonnage de la position de l'échantillon de ± 2 μm. Non seulement la précision de contrôle de la table d'échantillonnage permet un tel travail d'étalonnage de ciblage précis, mais le système d'observation peut également observer les détails de l'échantillon d'une taille minimale d'environ 3 μm pour un ciblage précis. Pour aider à mieux visualiser l'échantillon lors de son positionnement, la source de lumière annulaire à LED à 4 Segments ou l'éclairage coaxial à LED sont d'une grande aide, aidant les utilisateurs à obtenir des images nettes à partir d'un miroir de visualisation ou d'une caméra HD - tv.
En raison de l'intégration de la pompe à vide à l'intérieur de l'instrument, il n'est pas nécessaire de libérer un espace supplémentaire séparément. Grâce à la conception découplée de la pompe à vide, le champ de vision observé n'est pas perturbé par les vibrations générées par la pompe à vide lors de la préparation de l'échantillon.