Système de couplage Raman - microscopie à force atomique

Spectromètre Raman confocal microscopique: caractéristiques principales: 1, sensibilité beaucoup plus élevée que d'autres spectromètres Raman similaires, conception modulaire, longueur d'onde peut être choisie arbitrairement, configuration flexible, mise à niveau facile

Spectromètre microraman confocal:
Caractéristiques principales:
1, la sensibilité est beaucoup plus élevée que d'autres spectromètres Raman similaires, la conception modulaire, la longueur d'onde peut être choisie arbitrairement, la configuration flexible et la mise à niveau facile.
2, toutes les pièces de transmission sont contrôlées par une règle à grille en boucle fermée, la précision et la répétabilité de l'instrument ont été améliorées d'un ordre de grandeur par rapport à d'autres spectromètres similaires.
3, une large gamme de spectroscopie Raman peut être balayée en continu à la fois (brevet), sans spectroscopie de masse, sans utiliser de réseau à basse résolution.
4, le dernier système confocal microscopique protégé par brevet, peut ajuster en continu la profondeur confocale et améliorer considérablement le flux lumineux et la stabilité de l'instrument.
5, le brevet protégé Raman ou le signal Fluorescent est directement imagé une fois, obtenir rapidement la distribution spatiale du matériau.

Microscope à force atomique:
Caractéristiques principales:
Bruker Dimension ® Icon ™ Microscope à force atomique apporte une toute nouvelle expérience d'application AFM pour les chercheurs dans le domaine nanométrique de l'industrie et de la recherche scientifique, avec des tests puissants et un fonctionnement facile et facile. Toujours basé sur la plate - forme d'échantillon AFM la plus largement utilisée au monde, le système dimension combine des décennies d'expérience technique, un large éventail de commentaires des clients et les besoins d'équipement du secteur industriel pour une rénovation complète. La toute nouvelle conception du système, qui permet une faible dérive et des niveaux de bruit sans précédent, permet désormais aux utilisateurs d'obtenir des images numérisées réalistes et précises en quelques minutes seulement.

Dimension ® Icon ™ Une excellente résolution d'image, combinée à l'algorithme de balayage électronique caractéristique de bruker, améliore considérablement la vitesse et la qualité des mesures. Dimension ® Série de microscopes à force atomique à grande table toujours à la pointe de l'industrie, la dernière dimension ® Icon ™ Est une autre innovation dans la technologie de balayage de pointe, la configuration du capteur de position compensé par la température, atteint un faible niveau de bruit de l'axe Z sous - angström et l'axe XY angström, l'application sur le système de grande table d'échantillonnage avec une plage de balayage de 90 microns, l'effet est encore meilleur que le niveau de bruit en boucle ouverte de la haute résolution petite table d'échantillonnage AFM. La tête de balayage en boucle fermée XYZ nouvellement conçue ne nuit pas à la qualité de l'image, même lorsqu'elle fonctionne à des vitesses de balayage plus élevées, ce qui permet d'obtenir un plus grand volume d'acquisition de données.


Système de couplage Raman - microscope à force atomique:
Vous pouvez associer les capacités d'Invia Raman à la microscopie à sonde à balayage (SPM et AFM) pour étudier la composition, la structure et les propriétés des matériaux à l'échelle nanométrique.

Avantages du système associé:
Mesure in situ. Il n'est pas nécessaire de déplacer l'échantillon entre différents instruments, ce qui permet de gagner du temps et de garantir la bonne zone d'analyse.
Invia et SPM / AFM peuvent être utilisés simultanément en tant que systèmes autonomes sans affecter les performances des deux.
Obtenez des informations d'échantillon riches. Utilisez l'AFM pour enregistrer la topographie de l'échantillon et les propriétés physiques associées. Capacité accrue de Raman à analyser l'information chimique des échantillons pour identifier les matériaux et les composés non métalliques.
La mesure Raman augmentée de pointe (ters) peut être réalisée pour obtenir des informations chimiques à l'échelle nanométrique.

Choisissez le meilleur système:
Les bras de couplage flexibles spécialement conçus par Renishaw peuvent être utilisés pour intégrer Invia avec des optiques SPM ou AFM. Invia offre une grande flexibilité et est capable de le coupler directement à divers AFM et SPM des fournisseurs suivants: