Système de test dynamique des semi - conducteurs

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Systèmes de test dynamique des semi - conducteurs $R $N $R $N physico - Chemical Company fournit des solutions individuelles ainsi qu'un support technique

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Système de test dynamique des semi - conducteurs

Orienté matériaux / dispositifs semi - conducteurs (si / SiC / GaN / organique / pérovskite)Dynamique des porteurs + photonique transitoire + caractéristiques dynamiques des dispositifs de puissancePlateforme de test tout - en - un,Physico - Chemical instruments offre un programme exclusif et un support technique complet- Oui.

1. Dynamique des porteurs (au niveau du matériau)

Photovoltage / photocourant transitoire (TPV / TPC), fluorescence résolue dans le temps (trpl), mobilité en temps de vol (tof).
Spectroscopie transitoire de niveau profond (dlts), extraction de charge (CE), porteurs boostés linéaires (celiv).
Paramètres analytiques: durée de vie des porteurs, mobilité, longueur de diffusion, densité des états défectueux, taux de recombinaison interfaciale.

2. Caractéristiques dynamiques du dispositif de puissance (niveau du dispositif)

Test à double impulsion (DPT): temps d'ouverture / arrêt, temps de montée / descente, pertes de commutation, caractéristiques de récupération inverse.
Dynamique RDS (on), charge de grille QG, capacité de tolérance aux courts - circuits (scsoa), test de dégradation de la diode de volume.
Adaptation: MOSFET / IGBT / SiC - MOSFET / GaN - HEMT, couverture 600V - 10kV, 10A - 1ka.

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