Agent de microscopie à force atomique Shimazu

Microscope à force atomique ShimazuSPM-NanoaLe système de détection de haute sensibilité à faible bruit est adopté, tout en ayant la capacité d'automatiser les opérations pour soutenir les tests à haut débit.

Microscope à force atomique ShimazuSPM-NanoaLes caractéristiques avantageuses sont les suivantes:

1, l'observation est plus détaillée

Système de détection de rapport signal / bruit élevé

Imagerie matricielle 8K

Microsystèmes optiques

2, l'observation est plus facile

Mode facile "Observation automatique"

Réglage automatique de l'Axe optique "Link on"

Réglage automatique des paramètres' nanoassist '

3, observation plus rapide

Observation automatique

Pinces de remplacement de sonde et scanners haute vitesse

Nano cartographie 3D rapide

SPM - nanoa est un excellent instrument scientifique qui intègre un système de détection haute sensibilité à faible bruit avec des fonctions d'exploitation automatisées et prend en charge les tests à haut débit. Ses avantages comprennent un système de détection de rapport signal / bruit élevé, un réglage automatique de l'Axe optique, un réglage automatique des paramètres et un balayage à grande vitesse, ce qui rend l'observation plus détaillée, facile et rapide.