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Wuhan furfan Technology LLC
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TEM petite chambre - Essais IC

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Vue d'ensemble

Cellule TEM avec des fréquences allant jusqu'à 8 GHz, utilisable pour les essais de circuits intégrés selon les normes IEC 61967 - 2, IEC 61967 - 8, SAE 1752 - 3, IEC 62132 - 8 et GB / t 42968.2-2024.

Détails du produit

Le FF - t01a est une cellule tem jusqu'à 8 GHz, conforme à la norme FCC - Tem - JMC, adaptée aux tests IC.

Le FF - t01a étend la gamme de fréquences de fonctionnement de l'appareil à des domaines où les appareils existants ne sont pas en mesure de le faire, ce qui permet d'effectuer des tests d'émission par conduction et d'immunité à partir de 8 GHz sur des circuits intégrés ci montés dans une fenêtre de test fixe qui, une fois l'installation terminée, est prête à être testée à 8 GHz près conformément aux normes IEC 61967 - 2, IEC 61967 - 8, SAE 1752 - 3, IEC 62132 - 8 et GB / t 42968.2-2024. Le test IC n'est plus limité à l'utilisation de l'ancienne norme YDT 1690.2-2007 pour compléter le projet de test d'immunité aux rayonnements dans le test CEM des circuits intégrés.



La même série de produits soutient le développement personnalisé.

Paramètres:
Dimension extérieure: 68 * 28 * 16mm

Fréquence applicable: DC - 8ghz

VSWR : < 1,2


TEM小室-IC测试