Microscope à tunnel à balayage pédagogique

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Vue d'ensemble

Microscope de tunnel de lecture pédagogique (FM - nanoview t - STM), miniaturisé et amovible, très portable et facile à enseigner.

Détails du produit

Caractéristiques du produit:

◆Conception miniaturisée et amovible, très portable et pédagogique

◆côtéSystème d'observation CCD, observation en temps réel de l'état de la sonde et de la zone de balayage de l'échantillon de la sonde de localisation

◆La tête de détection et la table de balayage d'échantillon sont intégrées dans une seule pièce, la structure est très stable, forte résistance aux interférences

◆Style antichoc de suspension de ressort, simple et pratique, bon effet antichoc

◆Un axe conduit l'échantillon à proximité verticale automatique de la sonde, de sorte que la pointe de l'aiguille est perpendiculaire au balayage de l'échantillon

◆Méthode d'aiguille intelligente pour la détection automatique de céramique électrique sous pression contrôlée par moteur, protège la sonde et l'échantillon

◆Scanner intégré correction non linéaire éditeur utilisateur, nanocaractérisation et précision de mesure supérieure98%

Paramètres techniques :

Mode de travail	Mode haute constante, mode courant constant	Observation optique	1 ~ 500X amplification réglable en continu
Courbe spectrale du courant	Courbe I - V, courbe courant - distance	Taux de scan	0,1 Hz à 62 Hz
XYGamme de scan	10 × 10um	Angle de balayage	0 ~ 360°
ZGamme de scan	1um	Environnement opérationnel	Système d'exploitation Windows XP / 7 / 8 / 10
Résolution du scan	Latéralement0.05nm， Longitudinal 0.01nm	Interface de communication	USB 2.0 / 3.0
Taille de l'échantillon	Φ≤68mm, H≤20mm	Mode d'absorption des chocs	Suspension à ressort
Table de voyage d'échantillon	15 × 15 mm

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