Microscope électronique à balayage ultra - rapide

Zeiss multisem

Microscope électronique à balayage ultra - rapide

Tirez pleinement parti de la vitesse d'acquisition de jusqu'à 91 faisceaux d'électrons parallèles pour Imager des échantillons au centimètre avec une résolution nanométrique. Ce microscope électronique à balayage unique est conçu pour un fonctionnement continu et fiable 24 / 7. En configurant simplement un flux de travail d'acquisition de données à haut débit, multisem automatise l'acquisition d'images à haute résolution.

lImagerie extrêmement rapide

lAcquisition automatique d'images de grandes zones

lDétails à l'échelle nanométrique sous informations macroscopiques

lImages à faible bruit à haute densité

Plusieurs faisceaux d'électrons et détecteurs en parallèle

MultiSEMMicroscope électronique à balayage ultra - rapidePlusieurs faisceaux d'électrons (vert: voie d'éclairage) et détecteurs sont utilisés en parallèle. Le réglage fin de la voie de détection (rouge) permet de collecter de grandes quantités d'électrons secondaires (se) pour l'imagerie. Les faisceaux d'électrons sont disposés hexagonalement et chaque faisceau exécute un programme de balayage synchrone à un endroit de l'échantillon, ce qui permet d'obtenir une seule sous - image qui, à son tour, génère une image entière en fusionnant toutes les images. Un programme de configuration informatique parallèle est utilisé pour enregistrer rapidement les données afin de garantir une vitesse d'imagerie globale élevée. Dans un système multisem, l'acquisition d'images et le contrôle du flux de travail sont indépendants.

Flux de travail intégré

Tomographie continue en tranches pour la collecte d'échantillons de grand volume

Découpage automatique

Découpe automatique des tissus biologiques enrobés de résine avec atumtome. Collecte possible jusqu'à un jour1000Une tranche continue.

Incrustation d'échantillons

Le Ruban tranchant est incrusté sur une plaquette de silicium et l'échantillon est imagé au microscope optique. Transférez votre Wafer vers multisem, utilisez la vue d'ensemble pour naviguer et concevoir vos expériences.

Paramètres expérimentaux

Toute l'expérience peut être configurée à l'aide d'un seul centre de contrôle graphique. Gagnez du temps en identifiant et en verrouillant les zones d'intérêt grâce à une détection automatique efficace des tranches.

Cas d'application Zeiss multisem