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wm@shwmgx.com
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Téléphone
18018674943
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Adresse
588, route de Xianhu, nouveau secteur de Pudong, Shanghai
Shanghai instruments optiques étrangers Co., Ltd
wm@shwmgx.com
18018674943
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WMJ-9530Série de microscope à phase aurifère positive avec éclairage de chute, objectif à champ plat, oculaire à grand champ, image claire, bonne doublure, en même temps avec dispositif polarisant, or
La microscopie de phase est appropriée pour les échantillons minuscules et inconfortables inversés, ainsi que pour les études d'observation et les analyses d'échantillons nécessitant la recherche de cibles dans une gamme spécifique. Ainsi, la microscopie métallographique
En plus de la structure organisationnelle qui peut être utilisée pour identifier et analyser divers matériaux métalliques et alliés et substances non métalliques, elle peut également être largement utilisée dans les lignes d'instrumentation électroniques, chimiques et instrumentales.
L'industrie observe les substances opaques. Tels que les céramiques métalliques, les circuits intégrés, les puces électroniques, les cartes de circuits imprimés, les plaques à cristaux liquides, les fils, les fibres, les revêtements plaqués et autres non - or
Genre de matériaux, etc., effectuer des recherches et des analyses sur certains états de surface et d'autres travaux. Le microscope métallographique convient également aux secteurs de la médecine, de l'agroforesterie, de la sécurité publique, des écoles, de la recherche scientifique et d'autres secteurs pour l'observation
Analytique.
Caractéristiques de performance



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Configuration standard
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Oculaires |
Grande vueWF10X(Φ18mm) |
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Objectif |
Objectif achromatique à champ plat à longue distance de travail(Sans lamelles) PL 5X/0.12 |
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Objectif achromatique à champ plat à longue distance de travail(Sans lamelles) PL L10X/0.25 |
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Objectif achromatique à champ plat à longue distance de travail(Sans lamelles) PL L20X/0.40 |
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Objectif achromatique à champ plat à longue distance de travail(Sans lamelles) PL L40X/0.60 |
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Objectif achromatique à champ plat à longue distance de travail(Sans lamelles) PL L60X/0.75 (Le ressort) et |
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Objectif achromatique à champ plat à longue distance de travail(Sans lamelles) PL L 100X/0.85 (Le ressort) et |
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Cylindre oculaire |
Trois oculaires,Inclinaison30˚, (Lame polarisante d'inspection intégrée,Commutable disponible) et |
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Système d'éclairage de chute |
6V 20W,Lampes halogènes,Luminosité réglable |
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Illuminateur de chute avec barre lumineuse de champ, barre lumineuse d'ouverture, lame polarisante ascendante, (Jaune,Bleu,Vert) etFiltres et verre dépoli |
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Mécanisme de focus |
Focus coaxial à micro - Mouvement grossier,Valeur du micro - treillis: 2μm,Flexion grossière réglable,Avec dispositif de verrouillage et de limitation |
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Convertisseur |
Quatre trous(Positionnement intérieur des billes introverties) et |
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Table de chargement |
Double couche mécanique mobile(Dimensions:185mmX140mm,Gamme de mouvement:75mmX50mm) |
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Anti - moisissure |
Système anti - moisissure |
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Composition du système |
Type d'ordinateur(WMJ-9530C):1.Microscope métallographique 2.Miroir adapté 3.Caméra(CCD) 4.Ordinateur (en option) |
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Type numérique(WMJ-9530D): 1.Microscope métallographique 2.Miroir adapté 3.Appareil photo numérique (en option) |
Choisir un accessoire
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Le nom |
Catégorie/Paramètres techniques |
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Oculaires |
Grande vueWF16X(Φ11mm) |
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Division10X(Φ18mm)Valeur du treillis0.1mm/Le GRID |
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Objectif |
Objectif achromatique à champ plat longue portée(Sans lamelles) PL L 50X/0.70 |
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Objectif achromatique à champ plat longue portée(Sans lamelles) PL L 80X/0.80 |
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Objectif achromatique à champ plat(Sans lamelles) PL 100X/1.25 (Le ressort,Huile) et |
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CCDLe joint |
0.4X |
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0.5X |
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1X |
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0.5XAvec règle fendue,Valeur du treillis0.1mm/Le GRID |
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Caméra |
DV-1AvecUSBEtVideoSortie |
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DV-2AvecUSBSortie |
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DV-3AvecVideoSortie |
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Installations photographiques |
2.5X/4XCeinture d'installation photographique multipliée10XOculaires de cadrage |
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4XDispositif photographique de mise au point |
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MDAnneau de carte |
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PKAnneau de carte |
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Connecteur pour appareil photo numérique |
CANON(A610,A620,A630,A640) |
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Logiciel d'analyse |
Logiciel d'analyse de mesure d'image métallographique |
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Logiciel d'analyse de notation de l'Atlas métallographique |


