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Shanghai hengguang instrument de précision Co., Ltd
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Disque chauffant Wafer

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Vue d'ensemble

Applicable à différentes tailles de test de plaquette, peut être utilisé pour toutes sortes de tables de sonde, contrôle de la température en même temps pour effectuer des tests électriques.

Détails du produit

Plage de température - 120 ℃ ~ 400 ℃ stabilité de la température ± 0,05 ℃ uniformité de la température ± 2% zone d'échantillon 2 pouces ~ 12 pouces planéité de comptoir 25um potentiel de comptoir mise à la terre électrique trois contre - électrodes coaxiales optionnelles instruments d'adaptation manuelle table de sonde semi - automatique table de sonde recuit laser Domaines applicables puce semi - conductrice OLED test de plaque à changement de température optique