Spectromètre à fluorescence X

Production d'un flux d'électrons dans le tube à rayons X par le travail à haute pression la cible produit des rayons X primaires qui sont filtrés et agrégés injectés dans l'échantillon testé produit des rayons X secondaires, ce que nous appelons généralement la fluorescence X, la fluorescence X est détectée par le détecteur après amplification, la conversion numérique - analogique est transmise à l'ordinateur

Jpspec instrument de détection d'éléments sous vide

Utilisation: ROHS et détection d'halogène, analyse d'élément d'alliage, analyse de placage de métal, analyse d'élément de minerai de cendre de charbon, etc.;

Type d'échantillon testé: solide, poudre, liquide;

Environnement d'essai: peut être commuté à l'état atmosphérique ou à l'état de vide élevé ou à l'état rempli d'hélium selon le type d'élément d'essai (technologie de mesure de vide élevé, amélioration de la limite de détection des éléments légers mesurés, réalisation d'une mesure précise des éléments plus légers)

Plage d'éléments d'analyse: Na - U;

Plage de détection de contenu: 1 ppm - 99,99%;

Nombre d'échantillonneurs: jusqu'à 88 bits (peut être ajusté en fonction des besoins spécifiques de l'utilisateur)

Collimateur et système de filtrage: collimateur 8 groupes (ø 8,0 mm, ø 6,0 mm, ø 4,0 mm, ø 3,0 mm, ø 2,0 mm, ø 1,0 mm, ø 0,5 mm, ø 0,2 mm), filtre 5 groupes, peut être combiné librement selon le type d'essai;

Échantillon d'instrument avec fonction de spin, augmenter la zone d'essai d'échantillon par rotation d'échantillon, améliorer la répétabilité et la précision de l'échantillon

Système de brosse de remplissage d'hélium: système de brosse de remplissage d'hélium intégré pour améliorer les performances de test d'échantillon