Microscope à rayons xradia 410 versa

Microscope à rayons xradia 410 versaL'écart entre les microscopes à rayons X haute performance et les systèmes de tomodensitométrie (CT) peu fonctionnels est comblé. Le xradia 410 versa offre une imagerie 3D non destructive avec une résolution, un contraste et des fonctionnalités in situ optimaux de l'industrie *, vous permettant de mener des recherches révolutionnaires sur * un large éventail de tailles d'échantillons. Améliorez le flux de travail d'imagerie avec cette solution puissante et rentable de « Main force», même dans différents environnements de laboratoire
Tailles et types d'échantillons flexibles pour les capacités 4D et in situ de l'industrie
Le microscope à rayons X xradia 410 versa offre une imagerie 3D flexible et économique qui vous permet de traiter une grande variété d'échantillons et d'environnements de recherche. Au fil du temps, l'imagerie par rayons X non destructive peut conserver et étendre l'utilisation de vos précieux échantillons. L'instrument atteint une résolution spatiale réelle de 0,9 μm * et une petite taille de Voxel réalisable de 100 nm. L'absorption avancée et le contraste de phase (pour les matériaux mous ou à faible z) vous donnent plus de fonctionnalités pour surmonter les limites des méthodes traditionnelles de tomographie par ordinateur (CT industriel).
Les solutions xradia versa étendent la recherche scientifique au - delà des limites des systèmes CT micrométriques et nanométriques basés sur la projection. La Tomographie traditionnelle repose sur un seul étage de grossissement et le xradia 410 versa utilise un processus en deux étapes basé sur une optique Synchrotron - calibre. Il est facile à utiliser et a un contraste flexible. La résolution de percée à longue distance (Raad) vous permet de maintenir une résolution submicronique pour une large gamme de tailles d'échantillons dans des environnements natifs et dans une variété de foreuses de terrain. La fonction d'échelle multi - longueur non destructive vous permet d'imager le même échantillon à différents grossissements, ce qui vous permet de caractériser l'évolution (in situ) des propriétés microstructurales d'un matériau entre des traitements continus (4D) ou lorsqu'il est soumis à des conditions environnementales simulées.
En outre, le système de contrôle scout et Scan permet un environnement de flux de travail efficace grâce à une configuration basée sur la formulation, ce qui rend le xradia 410 versa facile à utiliser pour les utilisateurs de tous niveaux d'expérience.
　　Microscope à rayons xradia 410 versaAvantages
L'architecture xradia versa utilise une technologie d'amplification à deux niveaux qui vous permet d'atteindre une résolution à distance (Raad). Comme avec un CT miniature classique, l'image de l'échantillon est agrandie par un agrandissement géométrique. Dans une deuxième phase, le scintillateur convertit les rayons X en lumière visible qui est ensuite amplifiée optiquement. La dépendance réduite au grossissement géométrique permet aux instruments xradia versa de maintenir une résolution submicronique sur de grandes distances de travail. Cela vous permet d'étudier efficacement * une large gamme de tailles d'échantillon, y compris à l'intérieur in situ.
Imagerie 3D non destructive pour conserver et étendre l'utilisation d'échantillons précieux
Haute résolution spatiale aussi bas que < 0,9 μm, taille de Voxel aussi bas que 100 nm
Solutions de contraste avancées pour les matériaux à faible Z et les tissus mous
Fonctionnalités 4D et in situ pour l'industrie pour des tailles et types d'échantillons flexibles
Système de contrôle Scout and Scan, configuration de flux de travail facile à utiliser, idéal pour les environnements Multi - utilisateurs
Banc d'échantillons à charge lourde et déplacement étendu de la source et du Banc de détecteurs
* moins besoin de préparation d'échantillon
Navigation facile grâce à plusieurs systèmes de détection amplifiés
Fonctionnement continu par tomographie multipoint automatique et balayage répété