Zem ultra Field Launch Desktop Scan miroir électrique

NégociableMise à jour sur05/06

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Vue d'ensemble

Zeoji Technology Zem ultra Field Emission Desktop scanning mirror – meilleur que le SEM de bureau à ultra haute résolution de 2,5 nm. Avec Canon électronique Schottky + Système de vide à trois étages, il prend en charge l'amplification 500 000 fois et l'analyse EDS / EBSD. Nanomatériaux applicables, recherche et développement de batteries, détection de semi - conducteurs

Détails du produit

• Présentation du produit:

Zem ultra Desktop scanning mirror utilise une source d'électrons à émission de champ Schottky, une conception de vide indépendante à trois étages, une résolution supérieure à 2,5 nm pour répondre à la plupart des besoins de caractérisation des micro et Nanostructures d'échantillons. Équipé de série d'un grand flux de faisceaux et d'un bac à échantillons, il prend en charge les bancs d'échantillons fonctionnels in situ et l'expansion EDS / EBSD.

• Caractéristiques du produit:

▲Facilité d'utilisation forte

▲Fonctionnement entièrement automatique

▲Shotky Field lance un pistolet électronique

▲Haute stabilité

▲Observations à haute résolution

▲Expansion riche

• Paramètres du produit

Principaux indicateurs	ZEM Ultra
Résolution	≤2.5 nm
Grossissement	Un million de fois
Taille en pixels de l'image (par défaut)	512 * 512 (vidéo) 2048 * 2048 (prendre des photos)
Tension d'accélération	1 - 15kv réglable en continu
Type de filament	Filament d'émission de champ
Table d'échantillon électrique	XY deux axes / XYZ trois axes / xyt trois axes / cinq axes
Type de détecteur	BSE, SE et EDS
Mode de décélération	Option (réduction de la tension de la table d'échantillon 0 - 10kV)
Navigation optique	Navigation optique, caméra dans le bac
Dimensions intérieures du bac à échantillons	176mm largeur * 185mm longueur * 125mm hauteur
Fonction automatique	Contraste de luminosité automatique, mise au point automatique, assemblage de grands dessins
Fonction d'extension de table in situ	posséder

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