Produits de la gamme Zeiss Sigma

Produits de la gamme Zeiss SigmaCombinez étroitement la technologie de microscopie électronique à balayage par émission de champ (Fe - SEM) avec une bonne expérience utilisateur. Améliorez votre productivité grâce au flux de travail intuitif de Sigma, qui facilite les procédures d'imagerie et d'analyse. Vous pouvez collecter plus de données en moins de temps. Excellez dans l'imagerie haute résolution - avec une faible tension, obtenez une meilleure résolution et un meilleur contraste à 1 kV ou moins. En combinaison avec le choix des différents détecteurs, Sigma est largement adapté à votre application: qu'il s'agisse de nouveaux matériaux en développement, de particules pour le contrôle de la qualité ou de spécimens biologiques ou géologiques, ce miroir électrique vous aide à étudier une grande variété d'échantillons. Avec l'imagerie à pression variable (vp) dans des conditions polaires *, des images et des résultats d'analyse exceptionnels sont obtenus sur des non - conducteurs, même à basse tension, grâce à nanovplite.

Produits de la gamme Zeiss SigmaVous apporte une expérience Nano - analytique fiable et élevée *. Sigma360 est un microscope électronique à balayage par émission de champ intuitif (Fe - SEM) avec une plate - forme de test analytique disponible pour l'imagerie et l'analyse. Excellente conception géométrique EDS qui fournit une analyse à haut débit qui permet des expériences in situ automatisées.

Quel que soit l'échantillon, vous obtenez toujours des résultats d'analyse précis et reproductibles. Obtenez des informations d'image plus riches à partir d'échantillons sensibles à basse tension.

Les applications actuelles de microscopie électronique à balayage nécessitent une imagerie haute résolution à faible énergie d'atterrissage (appelée basse tension ou basse tension d'accélération) comme norme, car cela est essentiel pour étudier les échantillons sensibles ou non conducteurs au faisceau d'électrons. Cela vous permet d'obtenir des informations réelles sur la surface de l'échantillon sans être perturbé par les signaux de fond plus profonds de l'échantillon. Les pistolets à électrons et les systèmes de détection de Gemini sont optimisés pour permettre une imagerie haute résolution dans des conditions de basse et de très basse tension, ainsi qu'un contraste amélioré. Dans les électromiroirs à balayage, parce que moins d'énergie est transférée sur l'échantillon, un faisceau d'électrons incidents à faible tension d'accélération est utilisé pour l'imagerie d'échantillons sensibles au faisceau d'électrons. Dans le même temps, le faisceau d'électrons de faible énergie a une faible pénétration de l'échantillon. Vous pouvez ainsi capturer des détails de surface sans artefacts sur des échantillons sensibles en haute résolution.

Optimisation de l'imagerie basse tension accélérée

La distorsion optique électronique entraîne une perte de résolution, ce qui se produit plus souvent dans les images à basse tension. Comme prévu, la technologie de propulseur de faisceau d'électrons du barillet Gemini 1 est déjà capable de fournir une excellente résolution d'image à basse tension d'accélération. L'ouverture optimisée et le mode canon à électrons haute résolution permettent désormais d'optimiser davantage l'imagerie avec une faible tension d'accélération.

Mode pistolet électronique haute résolution

En mode canon à électrons haute résolution, l'aberration chromatique du faisceau d'électrons est réduite, ce qui permet une tache de faisceau plus petite. À des tensions de 1 kV et moins, ce mode offre une résolution d'image supplémentaire. Le concentrateur est réglé par défaut sur d'excellentes conditions d'imagerie (avec convergence électronique optimisée). Vous pouvez choisir de fournir une ouverture optimisée avec une gamme de courants tout en assurant une haute résolution. Un mode concentrateur supplémentaire peut être utilisé pour optimiser la profondeur de champ de l'image.

Détecteur

En général, l'utilisation d'une faible tension de faisceau d'électrons incident et d'un flux de faisceau de sonde de faisceau d'électrons faible permet une imagerie haute résolution des matériaux sensibles. Lorsqu'il s'agit de détecter des électrons excités à partir d'un échantillon, le détecteur inlens se très efficace peut non seulement fournir une haute résolution, mais également améliorer le contraste lorsque le flux de faisceau de sonde est inférieur à 10 Pa. Grâce à la prise en charge d'un scanner intelligent (tel que Drift Correction Frame average), un traitement stable des échantillons est garanti, même en haute résolution.

Miroir électrique à balayage à émission de champ élevée *

L'excellente flexibilité d'échantillon de Zeiss geminisem explore l'inconnu avec des miroirs électriques de balayage d'émission de champ, répondant aux exigences élevées en matière d'imagerie subnanométrique, d'analyse et de flexibilité d'échantillon. Le système permet une analyse à haut débit tout en offrant une excellente résolution dans des conditions de basse tension, de vitesse élevée et de courant de sonde élevé. Haute qualité d'image et polyvalence modes d'imagerie avancés détection efficace, excellente analyse depuis plus de 25 ans, les détecteurs Zeiss Gemini Technology offrent une grande variété et une large couverture.

Le système permet une analyse à haut débit tout en offrant une excellente résolution dans des conditions de basse tension, de vitesse élevée et de courant de sonde élevé. Son champ d'observation est large et sa cavité est extrêmement spacieuse, ce qui permet de détecter facilement même de grands échantillons.

Avec deux ports EDS diamétralement opposés et une configuration EDS / EBSD coplanaire, Zeiss geminisem offre une caractérisation efficace de la composition chimique et de l'orientation cristalline. Vous pouvez compter sur le Mapping sans ombre à grande vitesse.

Personnalisez et automatisez le flux de travail: Si vous avez besoin de tester les limites techniques de vos matériaux, Zeiss peut vous fournir un chauffage automatique in situ et un laboratoire de stress mécanique.

Domaines d'application en un coup d'œil

Analyse de défaillance de composants mécaniques, optiques et électroniques

Analyse de rupture et métallographie

Caractérisation des surfaces, Microstructures et dispositifs

Composition et distribution de phase

Détermination des impuretés et inclusions