Microscope électronique à balayage

Microscope électronique à balayage

Avec imagerie de haute qualité et différenciation avancéeFe - SEM pour les fonctions analytiques

Ensemble de produits Zeiss Sigma SeriesLe champMicroscope électronique à balayage par émissionLa technologie (Fe - SEM) est intégrée à une bonne expérience utilisateur pour faciliter les procédures d'imagerie et d'analyse et améliorer la productivité. Vous pouvez l'utiliser pour la surveillance de la qualité de nouveaux matériaux et particules ou pour la recherche d'échantillons biologiques et géologiques. Excellez dans l'imagerie haute résolution - avec une faible tension, obtenez une meilleure résolution et une meilleure résolution à 1 kV ou moins. Sa conception géométrique EDS exceptionnelle permet d'effectuer des analyses microscopiques avancées pour obtenir des données analytiques deux fois plus rapidement et avec une précision accrue.

·Sigma 360Est une imagerie et une analyse intuitivesFE-SEMIdéal pour les plateformes de tests analytiques.

· le sigma 560 est conçu avec la géométrie EDS * pour fournir une analyse à haut débit permettant des expériences in situ automatisées.

Systèmes optiques pour Gemini 1

Le système optique de Gemini 1 se compose de trois éléments: un objectif, un poussoir à faisceau d'électrons et un détecteur avec le principe de détection inlens. Parmi eux, la conception de l'objectif combine le champ électrostatique avec la force du champ magnétique, optimisant considérablement les performances optiques tout en réduisant l'impact du champ dans lequel l'échantillon est placé. Cela permet également une imagerie de haute qualité des échantillons difficiles tels que les matériaux magnétiques. Le principe de détection inlens assure une détection efficace du signal par détection d'électrons secondaires (se) et / ou d'électrons rétrodiffusés (ESB), tout en réduisant considérablement le temps d'acquisition des images. Le poussoir à faisceau d'électrons garantit une tache de faisceau d'électrons de petite taille et un rapport signal / bruit élevé.

Détection flexible

Sigma est équipé de différents détecteurs pour caractériser vos échantillons grâce à de nouvelles techniques de détection. Le mode de vide élevé avec les détecteurs etse et inlens permet d'obtenir des informations à haute résolution sur la topographie de la surface. Le mode de pression variable avec un détecteur vpse ou C2D permet d'obtenir des images nettes. L'imagerie électronique en transmission haute résolution est possible avec le détecteur astem. L'adoption de différents détecteurs d'ESB optionnels, tels que le détecteur absd, permet d'étudier en profondeur la composition et la topographie de surface de l'échantillon.

Mode nanovp Lite

L'analyse et l'imagerie avec le mode nanovp Lite permettent une meilleure qualité d'image dans des conditions de basse tension et une acquisition plus rapide de données analytiques plus précises.

·En mode nanovp - Lite, l'effet de jupe diminue et la longueur de trajet (bgpl) du flux de faisceaux incident diminue. La réduction des jupes améliore le rapport signal sur bruit pour les images se et BSE.

·L'absd télescopique avec un arc de cercle à cinq segments offre une excellente adhérence à la composition du matériau: lors du travail nanovp - Lite, le détecteur est équipé d'un manchon de flux de faisceau monté sous la chaussure polaire, qui fournit une imagerie de haute adhérence de la composition et de la topographie de surface à haut débit et à basse tension, adaptée aux conditions de pression variable et de vide élevé.

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