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Suzhou jiaxia Technology Co., Ltd
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    Bâtiment B1, 192, rue tinlan, parc industriel de Suzhou, Province du Jiangsu

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Profil de l'entreprise
Nom de la société :
Suzhou jiaxia Technology Co., Ltd
Année de création:
2026/5/16 0:02:58
Capital enregistré :
Produits principaux :
Adresse :
Bâtiment B1, 192, rue tinlan, parc industriel de Suzhou, Province du Jiangsu

Suzhou jiaxia Technology Co., Ltd

Analyseur d'éléments fluorescents X de haute précision / technologie de pointe entreprise innovante

Solution d'analyse des éléments traces sensible et hautement fiable. La société dispose de quatre plates - formes technologiques de produits portables, portables, de laboratoire et en ligne, principalement utilisées dans des domaines tels que les matériaux Lithium - électricité à énergie nouvelle, l'étude des sols, la surveillance de la qualité de l'eau, le dépistage de la transformation des produits agricoles, la surveillance de la sécurité alimentaire et la surveillance en ligne industrielle.

Dr. Chen zewu, fondateur de Suzhou jiaxia Technology Co., Ltd., a acquis la technologie d'invention dans des pays tels que la Chine, les États - Unis, le Japon et l'Union européenne, respectivement, depuis l'invention de la courbure hyperbolique à haut rendement en 1998. Le Dr tsevu Chen a dirigé son équipe vers la réalisation d'une large application de la courbure hyperbolique dans les spectromètres à fluorescence X, en inventant deux voies technologiques XRF pour mwdxrf et hpxrf et leurs gammes de produits; Le détecteur d'éléments à fluorescence X de haute précision utilise la technologie de focalisation de la lumière monochromatique incurvée hyperbolique appelée hdxrf pour réaliser une analyse précise du spectromètre à fluorescence X dans la détection d'éléments.

Analyseur élémentaire de fluorescence X de haute précision (hpxrf)

Dispersion d'énergie de type focalisation monochromatique XRF

Principe de fonctionnement: le tube à rayons X émet des rayons X, après avoir subi une flexion hyperbolique DCC pour rendre la fluorescence X monochromatique, puis la refocalisation est illuminée sur l'échantillon à tester, qui produit une fluorescence X caractéristique secondaire. En raison de l'augmentation de l'énergie de fluorescence X après la focalisation monochromatique et de l'absence d'interférences lumineuses panachées, la fluorescence X caractéristique des différents éléments produits par l'échantillon, après le calcul de la réponse par le signal du détecteur, produit d'excellentes limites de détection et des résultats quantitatifs de haute précision;

Chaque matrice d'échantillon est disponible dans l'établissement de la méthode quantitative par la méthode des paramètres de base FP ou la méthode d'étalonnage du coefficient empirique.

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