Le spectromètre de fluorescence X à réflexion totale (txrf) est un instrument scientifique pour la microanalyse Multi - éléments qui permet une détection rapide et hautement sensible des éléments primaires et traces (y compris ultra - traces) dans les échantillons liquides, en suspension, solides et polluants grâce à la technologie de fluorescence X à réflexion totale.
Txrf illumine la surface de l'échantillon par des rayons X incidents de très faible angle (typiquement inférieur à 0,1°), ce qui provoque un phénomène de réflexion totale des rayons X. À ce stade, les rayons X incidents ne sont plus diffusés par l'échantillon, mais excitent uniquement la substance de l'ordre du micron de la couche superficielle de l'échantillon, produisant un spectre de rayons X caractéristique. Ce procédé réduit sensiblement l'interférence des photons diffusés sur le signal du détecteur, ce qui permet de réduire considérablement le bruit de fond (de l'ordre de quatre ordres de grandeur environ par rapport au XRF classique), permettant ainsi la détection d'éléments traces de l'ordre du nanogramme (ng).
La réflexion totale se produit lorsque les rayons X frappent la surface d'un support d'échantillon tel qu'une feuille de quartz avec un angle inférieur à l'angle critique (typiquement 0,1° - 0,5°), évitant l'absorption et la diffusion des rayons X par le support; Les atomes élémentaires de l'échantillon (uniformément étalés sur la surface du support, d'épaisseur ≤ 100 nm) sont excités, émettant une fluorescence X caractéristique (XRF); L'énergie et l'intensité des rayons X caractéristiques sont acquises à l'aide d'un détecteur, les espèces élémentaires sont identifiées en fonction de l'énergie, le contenu élémentaire est calculé quantitativement en fonction de l'intensité.
Caractéristiques:
Haute sensibilité et faible limite de détection: convient pour l'analyse des particules ultrafines et des éléments traces.
Utilisation réduite de l'échantillon: seulement micro - Upgrade ou microgrammes d'échantillons sont nécessaires pour effectuer une analyse précise, en particulier lorsque le volume d'échantillon est limité.
Aucun effet de matrice: la configuration géométrique en réflexion totale réduit l'interférence de la base de l'échantillon avec les résultats de mesure et simplifie l'analyse quantitative.
Essais non destructifs rapides: le temps d'essai unique peut être réduit à moins de 5 minutes et il n'est pas nécessaire de détruire l'échantillon.
Capacité d'analyse Multi - éléments: plusieurs éléments peuvent être détectés simultanément, tels que le chrome, le plomb et d'autres 8 principaux éléments de métaux lourds, ou étendus à près de 30 éléments en fonction de la demande.
Facile et sûr à utiliser: l'interface tactile est intuitive et le risque d'exposition aux rayonnements est faible, ce qui garantit la sécurité des opérateurs.