Table de pliage verticale 3 et 4 points 300n & 2kn

300N & 2kNVerticale3Points et4Table de pliage point, pourSEM

MICROTESTFlexion et étirement en trois points/Le module de compression est spécialement conçu pour observer les zones fortement sollicitées d'un échantillon sous un microscope électrique à balayage ou optique.WindowsLe logiciel définit les paramètres de conduite etPCLa courbe de contrainte - déformation est affichée en temps réel à l'écran.75Nà2kNDeCapteur de chargeCouvrant la plupart des applications,Vitesse de déplacement à partir de0.05mm/minà5mm/min- Oui.La version spéciale peut être selon la demande du clientPersonnalisé.Tous les modules sont contrôlés par Notre logiciel de test de traction microtest- Oui.

Avec tousDebenModule de test comme, le contrôle est utilisé par ordinateurMICROTESTTester le logiciel.

Dans une flexion classique en trois points, l'échantillon est appuyé sur deux points extérieurs et déformé en entraînant un troisième point central vers le bas. Pour les applications de miroirs électriques à balayage, nous avons déjà la technologie inverse.

L'échantillon est situé à un point fixe central, les deux points externes étant entraînés vers le bas. Cela présente deux avantages: la zone d'intérêt à forte déformation est située en haut, ce qui facilite la visualisation et maintient la mise au point, car la hauteur n'est pas modifiée.

La charge maximale de l'unité standard est300N, vitesse de déplacement à partir de0.05mm/minà5mm/min. La version haute charge est également disponible pour2KNLes charges suivantes. La largeur standard de l'échantillon est40Millimètres. Les mâchoires supérieure et inférieure (points) peuvent facilement changer différentes configurations d'échantillon, par exemple pour permettre une étude d'indentation ou une flexion à quatre points.

Ce module est conçu uniquement pour la flexion verticale à trois points, pour la flexion horizontale à trois points, nous recommandons d'utiliser une table d'étirage avec une pince de flexion optionnelle à trois ou quatre points.

Applications recommandées:

Microscope électronique à balayage (SEM), microscope optique et microscope à force atomique, etc.

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