AFM sonde de microscopie à force atomique

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Vue d'ensemble

Paramètres de la sonde de microscope à force atomique AFM: pointe: 10nm constante mécanique: 48n / M (28 - 75n / M) Fréquence de résonance: 190khz (160 - 220khz) Longueur: 225 µm (215 - 235um) Largeur: 38 µm (33 - 43um) Épaisseur: 7 µm (6 - 8um) revêtement: revêtement réfléchissant en aluminium sur le côté du détecteur cantilever, 30 nm d'épaisseur

Détails du produit

AFM sonde de microscopie à force atomiqueParamètres techniques

Pointe de l'aiguille: < 10nm

Constante mécanique: 48 n / M (28 - 75 N / M)

Fréquence de résonance: 190khz (160 - 220khz)

Longueur: 225 UM (215 - 235um)

Largeur: 38 UM (33 - 43um)

Épaisseur: 7 UM (6 - 8um)

Revêtement

AFM AFM microscope à force atomique sonde côté détecteur avec revêtement réfléchissant en aluminium, 30 nm d'épaisseur

Hangzhou grampa Technology Co., Ltd a été fondée en 2006 et fait partie du Groupe Hong Kong grampa Holding. La société a successivement conclu des accords de coopération stratégique avec Asylum Research aux États - Unis, afmworkshop aux États - Unis, kammrath & Weiss en Allemagne, nanomaker en Russie, Stil en France, optics11 aux Pays - Bas, devenant leur agent général ou bureau de représentation dans la région de la Chine, où la société est spécialisée Dans la microscopie à force atomique, les accessoires de miroirs électriques, la bionanoindentation et la fourniture de services techniques connexes. Après 12 ans de développement à grande vitesse, la société a mis en place une équipe de pré - vente et d'après - vente parfaite et a reçu de nombreux éloges de l'Institut de recherche scientifique coopératif.

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