Microscope à force atomique compact

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Vue d'ensemble

Un microscope à force atomique compact permet d'observer la topographie tridimensionnelle et la structure polyphasique (au niveau nanométrique) des microrégions de l'échantillon sans perturber la structure interne de l'échantillon; Les propriétés physico - chimiques de la surface de l'échantillon peuvent également être étudiées, déterminées et analysées numériquement.

Détails du produit

Microscope à force atomique compactMode de travail:

1. Mode de travail standard:

1.1 mode de frappe (Vibration Mode)

1.2 mode de contact

1.3 imagerie de phase (phase Imaging)

Mode de force latérale (Lateral Force Microscopy LFM)

1.5 test de courbe de force (force Curve) pour mesurer le module de Young

1,6 Nanomanipulation

1,7 nanolithographie

1.8 mode matrice de force (force Mapping)

1.9 test de frottement (Friction mode)

2. Mode de travail facultatif:

2.1 mode de microscopie magnétique (mode MFM)

2.2 mode de microscopie électrostatique (mode EFM)

2.3 mode de microscopie à conduction (mode C - AFM)

2.4 mode liquide (Liquid Scan Mode)

Afmworkshop est une société spécialisée dans la conception et la fabrication de microscopes à force atomique. Le fondateur de la société est le Dr Paul West, 30 ans d'expérience en microscopie à force atomique et auteur du manuel de microscopie à force atomique Atomic forces microscopes.

Microscope à force atomique compactParamètres techniques

Plage de balayage: 100 μm, 50 μm, 15 μmz

Gamme de direction: 17 μm, 7 μm

XY direction résolution de l'entraînement: 0,01 nm

Résolution de conduite en Z: 0003 nm

Niveau sonore mesuré dans la direction Z: 0,15 nm

Taille de l'échantillon: diamètre 25mm

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