Gamme Brook dektak stepmètres / profileurs à sonde

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Gamme Brook dektak stepmètres / profileurs à sonde

_Gamme Brook dektak stepmètres / profileurs à sondeIl convient à de nombreux domaines tels que la mesure de surface à l'échelle nanométrique, l'analyse de la topographie de surface, avec plus de 50 ans d'expérience en recherche et développement, une technologie mature et des performances fiables.

L'appareil peut atteindre une excellente répétabilité de 4 Å (0,4 nm) et des vitesses de balayage rapides, soutenant la technologie de mesure de topographie de surface à l'échelle nanométrique dans des industries telles que la microélectronique, les semi - conducteurs, les écrans tactiles, l'énergie solaire, les LED à haute luminosité, la science médicale et des matériaux, les films minces et les revêtements, les applications des sciences de la vie et plus encore.

Nouvelle génération d'appareils stepper de bruker - dektak pro

Dektak Pro ™ Grâce à sa polyvalence, la facilité d'utilisation et la précision sont largement reconnues pour l'épaisseur du film, la hauteur des marches, les contraintes, la rugosité de surface et les mesures de gauchissement de la plaquette. La onzième génération de dektak ® Le système, avec une excellente performance de répétabilité 4Å et une option de plate - forme de 200 mm, peut fournir une variété d'analyses pour la topographie de surface des matériaux dans les domaines de la recherche scientifique et industrielle. En ce qui concerne les mesures de surface, dektak pro est idéal pour la microélectronique, les films et revêtements minces et les applications des sciences de la vie.

Performance puissante et répétabilité

Grâce à sa résolution, sa stabilité, sa robustesse et sa durabilité, dektak pro garantit des résultats fiables et de qualité pour les années à venir, voire les décennies à venir. Le nouveau modèle hérite de l'innovation sur la plate - forme dektak, offrant une résolution plus élevée, moins de bruit et un changement de sonde plus facile, tous des facteurs essentiels pour optimiser la répétabilité et la précision du système.

Dans un environnement approprié, dektak pro est même capable de mesurer une hauteur de pas de 1 nanomètre et d'atteindre une répétabilité supérieure à 4 Å sur la norme de hauteur de pas de 1 micromètre.

La performance dans les détails

La conception à un seul Arc de dektak pro réduit efficacement la sensibilité aux conditions environnementales défavorables, telles que le bruit et les chocs, tout en pouvant accueillir des tests d'échantillons de grande taille. La nouvelle génération d'applications électroniques intelligentes minimise les variations de température et le bruit électronique, réduisant ainsi les erreurs et les incertitudes dans les mesures de haute précision.

Le capteur à faible inertie (lis 3) permet au système de s'adapter rapidement aux changements brusques de morphologie de surface, en maintenant la précision et la réactivité dans les scénarios de mesure dynamique. La technologie de remplacement de sonde élimine le besoin de désalignement et de recalibrage du système grâce à des pinces de sonde auto - alignées, ce qui facilite le remplacement de la sonde et prend moins d'une minute.

Accès rapide aux résultats

Dektak pro utilise la technologie de plate - forme de numérisation à entraînement direct, une technologie de plate - forme de numérisation avancée qui réduit considérablement le temps de mesure sans compromettre la résolution et le fond de bruit, ce qui accélère l'acquisition des résultats pour la topographie 3D ou les scans de contours longs, tout en maintenant une excellente qualité de données et une répétabilité.

Vision64 ® Le logiciel utilise la technologie de traitement parallèle 64 bits pour un traitement rapide des données, même face au Big Data. De plus, les opérations automatisées d'analyse à balayage multiple simplifient les tâches répétitives et améliorent la vitesse et la commodité.

Stepper classique et fiable - dektak XT

Le profilomètre à sonde Brook dektakxt (stepper) dispose d'un design de table révolutionnaire combiné à la maturitéLa technologie et la conception ont permis d'obtenir des performances élevées, une grande facilité d'utilisation et une unité rentable, un meilleur contrôle des processus de la recherche et du développement au contrôle de la qualité.

Caractéristiques de l'équipement:

- performance puissante, reproductibilité de la hauteur des marches inférieure à 4Å

- conception Single Arch (Single Arch) pour une stabilité de numérisation révolutionnaire

- mise à niveau de « l'électronique intelligente» pour améliorer la précision et la stabilité des tests

- configuration matérielle optimisée pour réduire le temps d'acquisition des données de 40%

- 64 - BIT, vision64 sync logiciel de traitement de données, ce qui rend l'analyse des données dix fois plus rapide

- interface utilisateur intuitive vision64 pour une utilisation plus simple

- système d'étalonnage automatique de pointe d'aiguille pour permettre aux utilisateurs de changer facilement la sonde de pointe d'aiguille

- large gamme de modèles de sondes

- conception à capteur unique

- assurer des tests à haut débit

Système de profilomètre à sonde / système stepper -Déctak XTL

Le système de profilomètre à sonde dektak xtl (stepper System) est un système de profilomètre à sonde conçu pour des applications telles que la fabrication de grandes plaques et de panneaux pouvant accueillir des échantillons jusqu'à 350 mm x 350 mm, offrant des performances de balayage de haute précision et une excellente Répétabilité et reproductibilité.

L'équipement est conçu avec isolation des vibrations de l'air et un poste de travail entièrement fermé avec des portes verrouillées faciles à utiliser pour une utilisation dans des environnements de production exigeants. Architecture à double caméra pour une meilleure perception de l'espace. Un niveau élevé d'automatisation maximise le flux de test.

Caractéristiques du produit:

- les performances puissantes de la série dektak steppers

- architecture à arche unique, système d'isolation vibratoire intégré et grandes portes interlock

- plus grand et prend en charge la table d'échantillon XY codée de haute précision

- système de contrôle à double caméra

- analyse et acquisition de données pratiques

- N - Lite faible force avec technologie Soft touch

- configuration et fonctionnement automatisés fiables

- logiciel d'analyse amélioré

- système d'étalonnage automatique de pointe d'aiguille pour permettre aux utilisateurs de changer facilement la sonde de pointe d'aiguille

- large gamme de modèles de sondes