Diffractomètre à rayons X bruker XRD D6

Diffractomètre à rayons X bruker XRD

D6 PHASER

Diffractomètre à rayons X bruker XRD D6PHASERC'est une plate - forme de diffractomètre de table pour la géométrie de réflexion et de transmission de diffraction de poudre de rayons X, la diffraction rasante et l'analyse de couche mince de méthode de réflexion, et l'analyse de contrainte et de texture d'échantillon de bloc. Avec un système très puissant avec des générateurs jusqu'à 1200 W; 3 générateurs et détecteurs, 8 bancs d'échantillons pour jusqu'à 9 applications; Doté de la technologie Dynamic Beam optimization (DBO) pour une intensité et une précision angulaires supérieures (garantissant une position de crête supérieure à 0,01 ° d'écart angulaire, même en cas de remplacement de la table d'échantillonnage), un logiciel professionnel et simple à utiliser permet aux utilisateurs d'obtenir facilement d'excellentes données.

D6 phaser est une plate - forme de diffraction des rayons X de paillasse révolutionnaire qui allie maniabilité et flexibilité. Contrairement aux diffractomètres de paillasse traditionnels, le D6 phaser offre une méthode d'analyse * qui va au - delà de la Diffraction des poudres.

Puissant, polyvalent et facile à utiliser, le D6 phaser prend en charge une grande variété d'applications pour l'analyse des poudres, des blocs et des films minces et peut être intégré à de nouveaux accessoires pour répondre aux besoins analytiques changeants et aux nouvelles recherches scientifiques.

Performance puissante

Diffractomètre à rayons X bruker XRD D6PHASERDoté de la puissance de source de rayons X la plus élevée sur le marché des diffractomètres de table, d'un goniomètre à petit rayon, d'un détecteur de la série lynxeye éprouvé et d'une optique de faisceau de rayons X sur mesure, il surpasse les nombreux diffractomètres au sol.

· Puissance jusqu'à 1,2 kw avec système de refroidissement interne

· Goniomètre éprouvé

· Lynxeye Xe - t détecteur de résolution d'énergie

· Optionnel optique électrique

Diffractomètre x multifonctionnel de table

L'une des caractéristiques emblématiques de D6 phaser est sa capacité à réaliser de nombreux types de mesure autres que la Diffraction de poudre de base, ce qui en fait une plate - forme universelle vraiment adaptée à toutes sortes d'expériences.

· Réflexion et transmission

· Diffraction non environnementale

· Diffraction en incidence rasante (gid), réflectivité des rayons X (xrr), contrainte, texture

L'échantillonneur automatique permet le chargement externe de l'échantillon sans ouvrir l'instrument. En outre, les anneaux d'échantillon peuvent être chargés et déchargés automatiquement via l'interface de bande transporteuse.

Simple et facile à utiliser

Les utilisateurs n'ont pas besoin d'être formés. Basé sur le logiciel simple d'utilisation de bruker et sa connaissance approfondie des méthodes d'analyse XRD, ainsi que sur des accessoires d'automatisation abordables, D6 phaser est en mesure de guider les utilisateurs de manière intuitive dans la mise en œuvre de ces méthodes d'analyse.

· Optimisation dynamique du faisceau (DBO)

· Opération de panneau tactile

· Banc d'échantillons et commutation optique

D6 PHASERAvantages - maintenir de meilleures performances

Pour s'assurer que le D6 phaser peut être adapté à une grande variété d'échantillons et d'expériences, bruker a conçu non seulement plusieurs bancs d'échantillons et optiques, mais également une toute nouvelle interface de connexion mécanique et électrique. Ainsi, les utilisateurs peuvent facilement ajouter et Commuter eux - mêmes les bancs d'échantillons, ce qui permet au D6 phaser de s'adapter à de nombreux types de mesure autres que la Diffraction de poudre de base.

· Interface de chargement mécanique de haute précision

· Dispositif de contrôle électronique distribué (avec connecteurs électriques préinstallés)

· Le module DaVinci guide l'utilisateur à travers la commutation

· Précision de l'angle 2θ garantie à ± 0,01° après recalibrage

Interface mécanique précise, ainsi que des connexions électriques pour un rangement facile

D6 PHASERAvantages - solution 2D appropriée

Les solutions traditionnelles de diffraction des rayons X en deux dimensions utilisent généralement un détecteur plus grand pour scanner une petite zone sur un échantillon, ce qui convient bien aux grands diffractomètres spacieux. Dans un diffractomètre de paillasse, la diffraction bidimensionnelle des rayons X est utilisée pour évaluer l'état morphologique d'un échantillon afin d'avoir un aperçu de la préparation de l'échantillon et pour la discrimination de phase par méthode réflective. D6 phaser est capable de réaliser deux formes de diffraction bidimensionnelle – phi1d et ragg2d – qui combinent un faisceau lumineux pleine grandeur avec un membre de la famille de détecteurs lynxeye pour générer des images de diffraction bidimensionnelle. Ce mode est pris en charge dans toutes les configurations du D6 phaser, qu'il s'agisse d'un détecteur, d'une fente divergente, d'un accessoire anti - diffusion d'air ou d'un banc d'échantillons.

· Aucune exigence particulière: compatible avec tous les membres de la gamme de détecteurs lynxie

· Utilisez un faisceau plein format pour un balayage rapide de haute intensité

· La grande taille du faisceau permet une évaluation appropriée de la qualité de la préparation de l'échantillon dans son ensemble

· Les mêmes informations peuvent être obtenues avec des détecteurs bidimensionnels traditionnels et des faisceaux de petite taille

Des échantillons de granulométrie grossière insuffisamment préparés pour la Diffraction de poudre. Scan continu rapide (5 minutes)

D6 PHASERAvantages - non seulement un instrument, mais aussi une plate - forme expérimentale

La conception plate - forme du D6 phaser permet aux utilisateurs d'étendre leur concept de bureau avec plus d'outils et d'accessoires pour de nombreuses années à venir. Avec l'avènement de nouvelles technologies, les utilisateurs ont pu créer de nouveaux accessoires pour étendre le D6 phaser en s'appuyant sur le système dorsal du D6.

De la réflexion à la transmission, de la plaque à la feuille, du bloc à la pellicule, de la température normale à la pression normale à la non - environnement – des bancs d’échantillons universels pour toutes sortes d’expériences.

L'optimisation du faisceau est facile à réaliser grâce à une série de fentes fixes et motorisées, de fentes sola et d'écrans anti - diffusion.

D6 PHASERAvantages - vérification automatique de la confiance de chaque résultat

· Des instructions complètes et une interface conviviale aident l'utilisateur à renforcer sa confiance dans le remplacement des composants, ce qui permet d'optimiser l'instrument pour une utilisation maximale.

· Vérification du démarrage: au démarrage, l'instrument affiche une icône de doute jaune indiquant que son état de vérification est inconnu.

· Interface à écran tactile: l'instrument fournit une interface à écran tactile conviviale pour faciliter l'utilisation par l'utilisateur d'un mécanisme de bouton dédié pour lancer le processus de vérification.

· Paramètres d'évaluation: Au cours de la vérification, l'instrument évalue le Sommet, l'intensité relative et la largeur à mi - hauteur des quatre pics de diffraction sur toute la plage de mesure.

· Générer des rapports et des icônes: une fois le processus de vérification terminé, le système génère un rapport complet et les icônes correspondantes pour présenter visuellement la disponibilité du système.

· Indicateur d'état de préparation: l'icône verte du smiley indique que le système est prêt, l'icône rouge du froncement des sourcils indique que le système demande une nouvelle valeur de référence. Si l'icône rouge de froncement de sourcils est affichée, il suffit d'appuyer sur le bouton "calibrer et vérifier". Dans ce cas, le système exécutera un programme d'étalonnage de l'axe du goniomètre. Si le système confirme qu'il est actuellement dans les spécifications, l'icône verte smiley s'affiche.

Vérification des performances facile

D6 PHASERAvantages - diffraction automatique de poudre

En ce qui concerne la Diffraction des rayons X, l'échantillonneur automatique D6 phaser offre une solution encore plus précieuse pour l'identification de la phase substance et l'analyse quantitative de la structure des matériaux. Obtenir ces mesures rapides et fiables est idéal pour les programmes Big Data. Le chargement, la mesure, le déchargement et l'évaluation ultérieure des données des échantillons peuvent être automatisés, de sorte que les systèmes d'essai et d'analyse sont indépendants des opérateurs.

Planification, mesure et analyse via le logiciel diffrac.suite

Les solutions logicielles de diffraction des rayons X de bruker sont conçues pour offrir aux utilisateurs une expérience d'utilisation transparente et intuitive autour du concept « planifier, mesurer, analyser». Bruker utilise sa connaissance approfondie des méthodes d'analyse par diffraction des rayons X pour guider les utilisateurs tout au long du processus d'analyse.

Le logiciel complet et fiable diffrac.suite aide efficacement les utilisateurs à créer facilement des méthodes de mesure et à obtenir des résultats d'analyse puissants et précis.

Random est livré avec le logiciel de mesure diffrac.suite Measurement Center, le logiciel diffrac.eva pour l'évaluation de routine des données et la base de données COD pour la discrimination des phases des objets, avec 2 licences d'utilisation du logiciel (pour les utilisateurs industriels) et 10 licences d'utilisation du logiciel (pour les utilisateurs académiques).

D6 PHASERApplication

Pour tous les types d'échantillons: quel que soit le type d'échantillon, le D6 phaser complète les mesures en associant les accessoires appropriés - de la réflexion à la transmission, des échantillons en bloc aux films et revêtements, etc.

Outre les poudres, le diffractomètre D6 phaser peut également être utilisé dans les domaines suivants: identification de la phase objet, analyse quantitative, cristallinité, analyse et raffinement structuraux, analyse in situ, taille des grains, analyse de déformation microscopique, fonction de distribution de paires (PDF), texture, contraintes résiduelles, diffraction rasante (gid), réflectivité des rayons X (xrr), etc.