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Shanghai Aldi Instrument Technology Co., Ltd
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Stepper bruker dektak pro bruker

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Bruker dektak pro bruker stepper $R $N $R $ndektak pro Pour sa polyvalence, la facilité d'utilisation et largement approuvé dans l'épaisseur du film, la hauteur des marches, le stress, la rugosité de surface et la gauchissement de la plaquette mesures. La onzième génération de dektak Système, avec 4 Représentation de la répétabilité et offre une option de plate - forme de 200 mm qui peut fournir une variété d'analyses pour la topographie de surface des matériaux dans les domaines de la recherche scientifique et industrielle. Dektak pro a établi une nouvelle image dans la mesure de surface et est idéal pour les applications de microélectronique, de couches minces et de revêtements et de sciences de la vie.

Détails du produit

Stepper bruker dektak pro bruker

Dektak Pro ™ Pour sa polyvalence, la facilité d'utilisation et largement approuvé dans l'épaisseur du film, la hauteur des marches, le stress, la rugosité de surface et la gauchissement de la plaquette mesures. La onzième génération de dektak ® Le système, avec une représentation de la répétabilité 4Å et une option de plate - forme de 200 mm, peut fournir une variété d'analyses pour la topographie de surface des matériaux dans les domaines de la recherche scientifique et industrielle. Dektak pro a établi une nouvelle image dans la mesure de surface et est idéal pour les applications de microélectronique, de couches minces et de revêtements et de sciences de la vie.


Dektak pro est disponible avec:
„Fonctions de mesure et d'analyse pour garantir des données précises et rigoureuses à chaque fois
„Polyvalence et commodité, logiciel rationalisé et remplacement facile des sondes
„Réduisez le temps passé à obtenir des résultats grâce à la plate - forme de balayage direct et aux avancées logicielles

Paramètres du produit dektak pro

Techniques de mesure Mesure de profil de sonde (mesure de contact)
Fonction de mesure Mesure de profil de surface bidimensionnelle; Mesure 3D optionnelle
Champ de vision de l'échantillon Grossissement en option, 0275 à 2,2 mm
Capteur de sonde Capteur de faible inertie (lis 3)
Pression de la sonde 1 à 15 mg avec capteur lis 3
Faible force de forçage Capteur de force subtile n - Lite +, 0,03 à 15 mg (en option)
Options de sonde
Options de rayon de sonde de 50 nm à 25 µm;
Pointe d'aiguille à rapport de diamètre élevé (har) 200 µm x 20 µm;
Pointe d'aiguille personnalisée disponible selon les exigences du client
Table d'échantillons table XY
Manuellement 100 mm (4 '), nivellement manuel;
Motorisé 150 mm (6 '), nivellement manuel;
Motorisé avec encodeur 200 mm (8 '), nivellement manuel
Table rotative pour échantillons Manuel ou automatique, continu 360°
Dispositif d'amortissement des chocs Dispositif d'amortissement disponible (en option)
Gamme de longueur de scan 55 mm(2'); 200 mm (8 ') avec possibilité d'épissure par balayage
Chaque point de données scanné Jusqu'à 120 000 points de données
Épaisseur d'échantillon jusqu'à 50 mm (1.95')
Taille de disque jusqu'à 200 mm (8')
Hauteur de répétition des marches 4 Å, 1 Sigma (≤ 1 μm d'échantillon standard)
Gamme verticale 1 mm (0.039')
Résolution verticale 1 Å (@ 6,55 μm)
Tension d'entrée 100 à 240 vac, 50 à 60 Hz
Plage de température Plage de fonctionnement 20 à 25 °C (68 à 77 °F)
Plage d'humidité ≤ 80%, sans condensation
Dimensions et poids du système
Dimensions: 455 mm W X 550 mm d x 370 mm H (17,9 'W X 22,6' d x 14,5 'h);
Poids: 34 kg (75 LB);
Dimensions du boîtier: 550 mm L x 585 mm W X 445 mm H (21,6 'l)
x 23' W x 17.5' H);
Poids du boîtier: 5,0 kg (11 LB)




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