Diffractomètre de rayons X bidimensionnel de table

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Vue d'ensemble

Le diffractomètre de type Al - y500 est le dernier diffractomètre de rayons X bidimensionnel de table du Groupe Oron, utilisant la photographie fixe du détecteur, qui le distingue du diffractomètre à balayage traditionnel, du détecteur à semi - conducteur à comptage de photons de type surface de rayons X, avec des modes de compatibilité point, ligne et face 0d, 1D, 2d; $R $n est principalement utilisé pour la caractérisation de la phase objet, l'analyse quantitative des échantillons polycristallins, y compris l'analyse quantitative sans étalon, la détermination de la cristallinité, l'analyse de la structure cristalline, l'analyse de la structure des matériaux, la détermination de la taille des cristaux, la révision structurelle, l'Analyse de microzones, l'analyse des contraintes de film mince et de texture, etc.

Détails du produit

I. caractéristiques de l'instrument:

● détecteur photographique fixe, différent du diffractomètre à balayage traditionnel, le mode photographique est efficace et rapide, environ 5 à 30 fois plus rapide que le mode de balayage, adapté à l'analyse in situ, tous les angles de diffraction des informations collectées en même temps; Haute résolution énergétique, réduisant efficacement le fond Fluorescent.

● goniomètre θs, θd bras capteur servomoteur Drive + technologie de contrôle de codage optique, le détecteur peut faire un mouvement à deux positions le long de l'axe 2θ, goniomètre tourne plus en douceur, la mesure de l'angle de diffraction est plus précise et la linéarité est meilleure. L'échantillon tourne le long de l'axe thêta avec une précision de contrôle de 0,01 ° et une précision angulaire de ± 0,02 ° sur l'axe 2thêta.

● configuration des unités de détection Multi - lamelles composant l'ensemble du détecteur, uniformément et fixement distribué le long du cercle de diffraction, couverture sans couture de l'angle complet; Détecteur matriciel à double couche de 21 pièces (ou à couche unique de 10 pièces), couvrant la gamme 2θ: - 3 ° ~ 150 °, imagerie 2D, collecte simultanée d'informations sur l'angle gamma, données de diffraction 2D, informations plus riches.

● détecteur à semi - conducteur à comptage de photons de type surface à rayons X, haute sensibilité, peut réaliser un comptage de photons unique, grande plage dynamique, double seuil; Les sources lumineuses ponctuelles et linéaires sont interchangeables, le bychele est compatible avec la géométrie optique BB, les échantillons plats et colonnaires sont compatibles, les modes 2D, 1d et od du détecteur sont compatibles. Et résistant à l'irradiation pendant une longue période de rayonnement intense, longue durée de vie.

● Le dispositif de protection contre les rayons dispersifs est plus sûr et fiable, la porte de protection contre les rayons interdit automatiquement l'ouverture lors de la mesure de l'échantillon, dans tous les cas, vous pouvez éviter que l'opérateur ne soit soumis à un rayonnement de ligne de diffusion.

● La Taille compacte peut être installée sur le banc d'essai et ne nécessite pas d'environnement de laboratoire spécifique. Facile à utiliser, à utiliser et à entretenir.

II. Principaux indicateurs techniques pour chaque partie du matériel

台式二维 X 射线衍射仪

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