Spectromètre d'absorption des rayons X de table

Le spectromètre d'absorption de rayons X de table est un instrument d'analyse de type table qui utilise une source de rayons X de laboratoire conventionnelle (plutôt que le rayonnement synchrotron) pour effectuer des mesures structurelles fines de l'absorption des rayons X dans un laboratoire ordinaire. Son objectif est de permettre une caractérisation rapide et pratique de la structure atomique locale d'un matériau dans les conditions d'une source lumineuse non Synchrotron.

Spectromètre d'absorption de rayons X de table, en tant que technologie d'analyse non destructive, caractérisée par une haute précision et une sensibilité élevée, ces dernières années, il a été largement utilisé dans la science des matériaux, la chimie, la biologie et d'autres domaines.

Son principe de base consiste à utiliser les interactions entre les rayons X et la matière pour révéler la structure interne et les propriétés de la matière. Lorsque les rayons X traversent la matière, ils interagissent avec les atomes ou les molécules de la matière, créant des phénomènes tels que l'absorption, la diffusion, etc. En mesurant avec précision l'absorption des rayons X à différentes énergies, un spectromètre d'absorption de rayons X de table peut obtenir des informations sur les types, les teneurs et l'état chimique des éléments dans une substance.

Le spectromètre d'absorption des rayons X de paillasse utilise une source de lumière x conventionnelle pour réaliser des mesures spectrales de la structure fine d'absorption des rayons X (XAFS), qui complètent et élargissent bien les infrastructures scientifiques et technologiques majeures telles que le rayonnement synchrotron et les instruments scientifiques tels que les microscopes électroniques et les diffractomètres de rayons X.

　　Système de bureau miniaturisé, facile à utiliser:

· soutenez la fonction de balayage rapide de bord proche;

· soutenir les fonctions étendues telles que les tests in situ;

· haute conception ergonomique, opération plus facile;

· paramètres expérimentaux intégrés prédéfinis pour réaliser des mesures rapides;

· différents échantillons, différents modes de mesure commutent automatiquement en un clic;

· transmission de données à distance, affichage en temps réel des processus expérimentaux et des résultats pour soutenir les tests sans surveillance;

· support technique d'application professionnel et support d'analyse de données;

· l'instrument a la qualification d'exemption de rayonnement et l'interverrouillage de protection de sécurité multiple pour assurer la sécurité personnelle et d'utilisation.

　　Courbure spéciale XAFS:

· différentes configurations cristallines complètes pour réaliser la couverture des éléments individuels;

· installation pré - collimatée, plug - and - play;

· peut personnaliser les cristaux de courbure spéciaux en fonction des éléments requis pour une performance optimale.

　　Spectromètre de structure fine d'absorption de rayons X (XAFS) spectroscopie d'absorption de rayons X mécanisme de balayage d'énergie:

· mécanisme de balayage couplé;

· réaliser une liaison précise de la source lumineuse, de la courbure, de l'échantillon et du détecteur;

· haute précision et résolution, bonne stabilité.