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Anhui Genesis Instrument Technology Co., Ltd
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Anhui Genesis Instrument Technology Co., Ltd

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    11 Anhui instrument de spectroscopie de bâtiment, parc industriel de Guoke juntong, 103 Huabu Lane, zone de haute technologie, district de Shushan, Hefei, Province de l'Anhui

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Bureau XAFS

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Vue d'ensemble
Le XAFS (X - ray absorption fine structure Spectrometer) de paillasse est un appareil miniaturisé au niveau du laboratoire qui permet la mesure et l'analyse de structures fines d'absorption des rayons X (XAFS) dans un laboratoire conventionnel. Son objectif principal est de dépasser les contraintes de temps machine et les coûts élevés des grandes installations en transférant les expériences XAFS traditionnelles basées sur des sources de rayonnement synchrotron dans un environnement de bureau grâce à une conception compacte et à une technologie hautement intégrée.
Détails du produit

Paillasse XAFS (spectromètre de structure fine par absorption de rayons X)La mesure spectrale de la structure fine d'absorption des rayons X (XAFS) à l'aide de sources de lumière x conventionnelles est un excellent complément et un effet d'extension pour les grandes infrastructures scientifiques et technologiques telles que le rayonnement synchrotron et les instruments scientifiques tels que les microscopes électroniques et les diffractomètres de rayons X. Ce produit a actuellement été choisi par l'Université de Pékin, l'Université d'aéronautique et d'espace de Pékin, l'Université de Tianjin, l'Université de Chine du nord de l'énergie électrique, l'Université de Qinghai, l'Université d'Anhui et de nombreuses autres universités et universités, contribuant efficacement à la recherche scientifique pertinente et aux Applications pionnières!

台式XAFS

Système de bureau miniaturisé, facile à utiliser:

· soutenez la fonction de balayage rapide de bord proche;

· soutenir les fonctions étendues telles que les tests in situ;

· haute conception ergonomique, opération plus facile;

· paramètres expérimentaux intégrés prédéfinis pour réaliser des mesures rapides;

· différents échantillons, différents modes de mesure commutent automatiquement en un clic;

· transmission de données à distance, affichage en temps réel des processus expérimentaux et des résultats pour soutenir les tests sans surveillance;

· support technique d'application professionnel et support d'analyse de données;

· l'instrument a la qualification d'exemption de rayonnement et l'interverrouillage de protection de sécurité multiple pour assurer la sécurité personnelle et d'utilisation.

Courbure spéciale XAFS:

· différentes configurations cristallines complètes pour réaliser la couverture des éléments individuels;

· installation pré - collimatée, plug - and - play;

· peut personnaliser les cristaux de courbure spéciaux en fonction des éléments requis pour une performance optimale.

Spectromètre à structure fine d'absorption des rayons X (XAFS)Test de spectroscopie d'absorption des rayons XMécanisme de balayage énergétique:

· mécanisme de balayage couplé;

· réaliser une liaison précise de la source lumineuse, de la courbure, de l'échantillon et du détecteur;

· haute précision et résolution, bonne stabilité.