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Shenzhen enyang Technology Co., Ltd
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Spectromètre à fluorescence X à dispersion d'énergie XD - 1000 Épaisseur de film entièrement automatique

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Vue d'ensemble

Spectromètre à fluorescence X à dispersion d'énergie le spectromètre d'épaisseur de film entièrement automatique XD - 1000 est un spectromètre d'analyse de composition et d'épaisseur dédié à la détection de toutes sortes de pièces profilées, à toutes sortes d'analyses d'épaisseur de placage, à toutes sortes de pièces surdimensionnées, de pièces profilées rainurées, de tests multipoints intensifs ou de détection automatique d'un grand nombre de petites pièces, en particulier de moules de matériel, de produits de salle de bain, de plaques de ligne et de traitement de surface de composants électroniques de haute précision. Il est largement utilisé pour le contrôle de la qualité de divers produits, l'inspection des matériaux entrants et la mesure du contrôle des processus de production.

Détails du produit

Spectromètre à fluorescence X à dispersion d'énergie XD - 1000 Épaisseur de film entièrement automatiqueLe mesureur d'épaisseur Spectral à éclairage supérieur est un type dédié à la détection de toutes sortes de pièces profilées, toutes sortes d'analyses d'épaisseur de placage peuvent être analysées simultanément sur le liquide de placage, adapté à toutes sortes de pièces surdimensionnées, de pièces de rainure profilées, de tests multipoints intensifs minuscules ou de détection automatique d'Un grand nombre de petites pièces une par une

En particulier, les spectromètres d'analyse de composition et d'épaisseur pour les moules de type matériel, les produits de salle de bain, les plaques de ligne et le traitement de surface des composants électroniques de haute précision.

Il est largement utilisé pour le contrôle de la qualité de divers produits, l'inspection des matériaux entrants et la mesure du contrôle des processus de production.

1) avec un générateur de rayons X microfocus et un excellent système de mise au point de conversion de chemin optique avec technologie de contrôle de zoom non destructif, la zone de mesure minimale peut atteindre 0,01 mm²

2) fonction de zoom manuel, peut effectuer un contrôle non destructif sur toutes sortes de pièces de rainure profilées, plage de profondeur de rainure 0 - 70mm

3) algorithme EFP de base, peut effectuer une analyse de données rapide, quasi et stable sur plusieurs couches d'éléments multiples, équipé d'une plate - forme mobile Programmable entièrement automatique, peut réaliser un déplacement précis et une détection simultanée sans surveillance, multipoints, échantillons multiples

4) 23 couches, 24 éléments peuvent être analysés simultanément, plage d'éléments de mesure: chlore Cl (17) - uranium U (92), plage d'analyse de revêtement: lithium Li (3) - uranium U (92), revêtementLimite de détection: 0005 μm

5) humaniser le logiciel fermé, juger automatiquement la correction d'indice de défaut et les étapes d'opération, éviter l'opération incorrecte

6) standard avec collimateur φ 0.2mm

7) équipé de la technologie de micro - agrégation de lumière, la diffusivité du spot de mesure de distance le plus proche est inférieure à 10%


能量色散X荧光光谱仪XD-1000全自动膜厚仪


能量色散X荧光光谱仪XD-1000全自动膜厚仪


Domaines d'application

能量色散X荧光光谱仪XD-1000全自动膜厚仪

能量色散X荧光光谱仪XD-1000全自动膜厚仪

Paramètres de l'instrument

Nom du produit Spectromètre à fluorescence X à dispersion d'énergie XD - 1000 Épaisseur de film entièrement automatique
modèle

XD-1000

Gamme d'éléments de mesure

Cl(17)- U(92)

Gamme d'analyse de revêtement

Li(3)- U(92)

Algorithme EFP

Standard équipé

Logiciel d'analyse

Analyse simultanée de 23 placages, 24 éléments

Les différentes couches sont identiques

Capacité de détection des éléments

Standard équipé

Opérations logicielles

Logiciel fermé humanisé, jugement automatique des erreurs de correction et des étapes de fonctionnement, évitez les erreurs d'exploitation

Appareils à rayons X

Tube à rayons micro - focalisés

Signal et réception

Processeur pro - SD + PC

Collimateur

φ0.2mm

(optionnel avec φ 0,1 mm)

Technologie de focalisation à faible luminosité

Diffusivité du spot télémétrique le plus proche inférieure à 10%

Mesurer la distance

Avec la fonction de compensation de distance, peut changer la distance de mesure mesure échantillon profilé concave et convexe, distance de zoomSupérieure à 70mm

Observation des échantillons

1 / 2.9 "CCD couleur, fonction zoom

Mode de mise au point

Objectif haute sensibilité, autofocus sans sensation

Grossissement

25X-150X

Dimensions de l'instrument

Profondeur 760mm * largeur 550mm * hauteur 635mm

Gamme de mouvement de l'axe Z

145mm

Mode de déplacement de la table d'échantillon

Plate - forme XY haute précision entièrement automatique

Gamme mobile

240*210mm

Poids de l'instrument

120 kg

Autres accessoires

Ensemble d'ordinateur, boîte d'accessoires, feuille de douze éléments, tasse de mesure de placage (en option), feuille standard (en option)

Normes de rayons X

DIN ISO 3497, DIN 50987 et ASTM B 568